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1)  nano impedance microscopy (NIM)
纳米阻抗显微镜
2)  AFM based nanomanipulation
原子力显微镜纳米操作
3)  nanoscale impedance
纳米阻抗
4)  scanning impedance microscopy (SIM)
扫描阻抗显微镜(SIM)
5)  metrological AFM of nanomeasuring system
计量型原子力显微镜纳米测量系统
1.
The AFM is one of important and useful nanomeasuring instruments,we have developed the metrological AFM of nanomeasuring system at NIM.
中国计量科学研究院成功研制了计量型原子力显微镜纳米测量系统,本文介绍了该系统的技术特点和指标,并通过与发达国家的比对测试验证了该系统在测量原理、测量精度及可溯源性方面已达到了国际先进水平。
6)  nanoindentation hardness
纳米显微硬度
1.
Comparison of the nanoindentation hardness of near grain boundary to that of inner grain showed that the nanoindentation hardness of near grain boundary was generally higher than that of inner grain.
通过测量四种材料晶粒内部和晶界附近的纳米显微硬度 ,总体来看 ,晶界附近的硬度通常比晶粒内部高 ;而这种差别越小 ,所对应材料的冲击性能越
2.
Comparison of the nanoindentation hardness of near grain boundary to that of inner grain showed that the nanoindentation hardness of near grain boundary was generally harder than that of inner grain.
通过测量4种材料晶粒内部和晶界附近的纳米显微硬度,统计地看,晶界附近的硬度通常比晶粒内部高。
补充资料:读数显微镜
      利用显微镜光学系统对线纹尺的分度进行放大、细分和读数的长度测量工具。它常被用作比长仪、测长机和工具显微镜等的读数部件,或作为坐标镗床和坐标磨床等的定位部件,也可单独用于测量较小的尺寸,例如线纹间距、硬度测试中的压痕直径、裂缝和小孔直径等。其分度值有10微米、1微米和0.5微米几种。
  
  按细分的原理不同,读数显微镜通常分为直读式、标线移动式和影象移动式3种。①直读式读数显微镜(图中a):线纹尺上的刻度经物镜局部放大后成象于分划板上,如线纹间距为1毫米,放大至与分划板上100个分度的距离相等,通过目镜(放大)即可读出0.01毫米的分度值。②标线移动式读数显微镜(图中b):测量时转动微动手轮,使可动分划板上的双刻线与线纹尺线纹象对准,从读数鼓轮或其他读数机构读出百分位数和千分位数,从可动分划板上读出十分位数。为了避免微动手轮上的精密螺纹(或其他微动机构)磨损,有的显微镜把可动分划板上的双刻线制成双阿基米德螺旋线(图中c)。双阿基米德螺旋线的螺距等于1/10线纹尺线纹间距乘以物镜放大倍数,而在其内圈又刻有100个等分分度,所以在它对准线纹象后,即可从固定分划板上读出十分位数、从可动分划板上读出百分位数和千分位数。③影象移动式读数显微镜:在物镜与分划板之间,加入可动光学元件(例如平面平行玻璃、光楔玻璃或补偿透镜等)。当移动这类光学元件时,线纹尺的线纹象出会移动,在线纹象与固定分划板上的双刻线对准后,即可分别从固定分划板和可动分划板上读出十分位和百分位、千分位的数值。
  
  将线纹尺刻度通过物镜放大后投影到影屏上,并利用分划板和微动装置细分、读数的部件叫光学读数头。它可减轻人眼在瞄准和读数时的疲劳,其分度值有10微米、2微米和1微米几种。
  

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参考词条