1) analytical electron microscopy (AEM)
分析电子显微术(AEM)
2) analytical transmission electron microscopy
分析电子显微学
6) X-ray electron probe microanalysis techniques
X射线电子探针显微分析技术
1.
Through environmental scanning electron microscopy combined with X-ray electron probe microanalysis techniques, 10 kinds of metal content (Al, Cd, Cr, Pb, Mg, P, S, K , Ca, Si) were determined respectively in 6 sites of 23 kinds of different genotypes rice grain including inside and o
通过环境扫描电镜结合X射线电子探针显微分析技术,对23种不同基因型水稻籽粒颖壳内、外表面、颖果表面、糊粉层、亚糊粉层、中心胚乳6个部位和20种不同基因型小麦籽粒皮层、糊粉层、盾片、胚芽、胚轴、胚根、内胚乳7个部位的10种金属含量(分别为Al、Cd、Cr、Pb、Mg、P、S、K、Ca、Si)进行测定。
补充资料：X线显微分析术
应用x线显微分析器(x-ray microanalyzer)探测细胞或组织的微小区域内元素成分的技术，在新型的扫描电镜与透射电镜均装配有该装置。可对样品中的元素进行定性和定量分析，常用的为能谱分析法，根据所测谱峰以确定细胞局部区域内所含元素的性质及元素的相对含量。
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条