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1)  consumption of compact spinning element
集聚元件损耗
2)  Nesting Element
集聚元件
3)  semiconductor losses
半导体元器件损耗
4)  dead end loss
空匝损耗,死元件损耗(线圈的)
5)  collector dissipation
集极损耗
6)  consumable accessories
耗损件
补充资料:介质损耗角正切试验(见电容率与损耗因数试验)


介质损耗角正切试验(见电容率与损耗因数试验)
dielectric loss tangent test

)!eZh.sunhooJ一002匕engq一e sh一yon介质损耗角正切试验(dieleetri。1055 tangenttest)见电容率与损耗因数试验。
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参考词条