1) JCP DS
X射线衍射数据标准
2) data of X-ray diffraction
X射线衍射数据
1.
On the normal expression of data of X-ray diffraction in sci-techpapers;
科技论文中X射线衍射数据的规范表达
3) standard X ray diffraction (XRD) pattern
标准X射线衍射谱
1.
The standard X ray diffraction (XRD) patterns of the key phases of electrode materials for Ni MH battery, such as β Ni(OH) 2, γ NiOOH and LaNi 5, La 2O 3 and La(OH) 3, etc.
用Rietveld分析法模拟计算MH Ni电池电极材料主要物相 [如 β Ni(OH) 2 ,γ NiOOH和LaNi5,La2 O3 与La(OH) 3等 ]标准X射线衍射谱 ,并根据多相体模型定量分析 (或称无标定量相分析法 )确定电极制备与充放电过程中少量第二相的含量。
4) index of X ray powder diffraction data
X射线粉末衍射数据指标化
5) indexes of X-ray powder diffraction data
X-射线粉末衍射数据指标化
6) index of X_ray powder diffraction data
X射线粉末衍射数据
补充资料：X射线粉末衍射法
分子式：
CAS号：
性质：在X射线衍射分析中，采用单色X射线和粉末状多晶样品进行衍射的一种方法。多晶试样大多数情况是多晶粉末，也可以是多晶片或丝。衍射线条的位置、强度，可用德拜法、聚焦法或针孔法等照相记录。粉末法主要用于物质鉴定、晶体点阵常数、多晶体的结构、晶粒大小、高聚物结晶度测定等。
CAS号：
性质：在X射线衍射分析中，采用单色X射线和粉末状多晶样品进行衍射的一种方法。多晶试样大多数情况是多晶粉末，也可以是多晶片或丝。衍射线条的位置、强度，可用德拜法、聚焦法或针孔法等照相记录。粉末法主要用于物质鉴定、晶体点阵常数、多晶体的结构、晶粒大小、高聚物结晶度测定等。
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条