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1)  Electron correlation effect
电子相关效应
例句>>
2)  electron correlation effect
电子关联效应
例句>>
3)  electron correlation effect in closed-shell
闭壳层之间的电子相关效应
4)  Correlation Effect
相关效应
例句>>
5)  positive correlation
正相关效应
1.
A possible important opinion of great significance on biology -- the positive correlation between the elements quantity and the peoples longevity was also put forward.
本文讨论了锰在人体中的状态、分布及其生理功能 ,并提出了一个可能具有重要生物学意义的观点———锰在人体中含量的高低与人的寿命间具有正相关效
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6)  electron correlation
电子相关
1.
Comparation between the electrostatic potential figures,the effect of fullerene electron correlation has been analyzed.
分别在Hartree-Fock和密度泛函B3LYP理论下,用6-31G*基组研究了C60和C70分子的静电势,比较了这方法计算得到上述分子静电势值的大小,静电势图形和静电势差值曲线,分析了富勒烯的电子相关效应。
2.
On the basis of the correct understanding of porphine structure,the S_(4) axis of protonated porphine is obtained first in theory by MP2 and B3LYP methods considering electron correlation energy,which is in agreement with crystal analysis experiments.
在正确认识卟吩结构的基础上,选用考虑电子相关的MP2和B3LYP方法,从理论上得到质子化卟吩的S4轴,与晶体衍射实验的结果一致。
3.
Porphine structures are fully optimized by using MP2 and two kinds of DFT me thods considering electron correlation.
用考虑电子相关的 MP2和 2种 DFT方法 ,在不同的基组下对卟吩结构全优化 。
补充资料：电工电子产品环境试验国家相关标准

一、GB/T2423 有以下51个标准组成：
1 GB/T 2423.1-2001 电工电子产品环境试验 第2部分: 试验方法 试验A: 低温


2 GB/T 2423.2-2001 电工电子产品环境试验 第2部分: 试验方法 试验B: 高温


3 GB/T 2423.3-1993 电工电子产品基本环境试验规程 试验Ca:恒定湿热试验方法


4 GB/T 2423.4-1993 电工电子产品基本环境试验规程 试验Db: 交变湿热试验方法


5 GB/T 2423.5-1995 电工电子产品环境试验 第二部分：试验方法 试验Ea和导则: 冲击


6 GB/T 2423.6-1995 电工电子产品环境试验 第二部分: 试验方法 试验Eb和导则： 碰撞


7 GB/T 2423.7-1995 电工电子产品环境试验 第二部分: 试验方法 试验Ec和导则: 倾跌与翻倒 (主要用于设备型样品)


8 GB/T 2423.8-1995 电工电子产品环境试验 第二部分: 试验方法 试验Ed: 自由跌落


9 GB/T 2423.9-2001 电工电子产品环境试验 第2部分: 试验方法 试验Cb: 设备用恒定湿热


10 GB/T 2423.10-1995 电工电子产品环境试验 第二部分: 试验方法 试验Fc和导则: 振动(正弦)


11 GB/T 2423.11-1997 电工电子产品环境试验 第2部分: 试验方法 试验Fd: 宽频带随机振动--一般要求


12 GB/T 2423.12-1997 电工电子产品环境试验 第2部分: 试验方法 试验Fda: 宽频带随机振动--高再现性


13 GB/T 2423.13-1997 电工电子产品环境试验 第2部分: 试验方法 试验Fdb: 宽频带随机振动 中再现性


14 GB/T 2423.14-1997 电工电子产品环境试验 第2部分: 试验方法 试验Fdc: 宽频带随机振动 低再现性


15 GB/T 2423.15-1995 电工电子产品环境试验 第二部分: 试验方法 试验Ga和导则: 稳态加速度


16 GB/T 2423.16-1999 电工电子产品环境试验 第2部分: 试验方法 试验J和导则: 长霉


17 GB/T 2423.17-1993 电工电子产品基本环境试验规程 试验Ka: 盐雾试验方法


18 GB/T 2423.18-2000 电工电子产品环境试验 第二部分: 试验--试验Kb:盐雾, 交变(氯化钠溶液)


19 GB/T 2423.19-1981 电工电子产品基本环境试验规程 试验Kc: 接触点和连接件的二氧化硫试验方法


20 GB/T 2423.20-1981 电工电子产品基本环境试验规程 试验Kd: 接触点和连接件的硫化氢试验方法


21 GB/T 2423.21-1991 电工电子产品基本环境试验规程 试验 M: 低气压试验方法


22 GB/T 2423.22-2002 电工电子产品环境试验 第2部分: 试验方法 试验N: 温度变化


说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条