1) XPS
XPS能谱
2) X-ray photoelectron spectroscopy (XPS)
光电子能谱(XPS)
3) XPS spectra
XPS谱
1.
The XRD spectra and XPS spectra were measured for Sr doped La 1- x Sr x CoO 3 materials with perovskite structure prepared by the solid state reaction method.
测试了该材料的XRD和XPS谱 ,研究了不同热处理工艺对La1 -xSrxCoO3材料平均晶粒度的影响 ,研究了不同Sr掺杂量的La1 -xSrxCoO3阴极材料表面的化学状态。
2.
XPS spectra are obtained for the bleached and coloured statos in Ni2p3/2 and O1s regions.
着色没有自发过程，获取了着消色状态Ni2p3／2和O1s的XPS谱，表明在着色态镍被氧化，消色态镍被还原，相应地氧的化学环境发生改变。
4) XPS spectrum
XPS谱
1.
The analysis of XPS spectrum of thin films formed by Cu cluster beam deposited onto Si substrate;
用能量3keV流强为4～6μA/cm2Ar+束,预溅射处理样品表面后,用XPS分析,常规磁控溅射室温下得到的Cu/P-Si(111)样品和铜团簇束沉积,偏压分别为0,1,3,5,10kV的样品XPS谱和块状Cu标样谱基本一样,Cu2P1、Cu2P3、CuLMM特征峰位没有移动,反映不出原子结合能差异。
5) X-ray photoelectron spectroscopy (XPS)
X射线光电子能谱(XPS)
6) XPS
X射线光电子能谱(XPS)
补充资料：VGESCALABMKII电子能谱仪
VGESCALABMKII电子能谱仪
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参考词条