1) Indextion of an electronic diffraction pattern
单晶电子衍射花样指标化
2) SADP
单晶选区电子衍射花样
3) twin electron diffraction pattern
孪晶电子衍射花样
4) electron diffraction demarcate
电子衍射花样标定
6) single crystal electron diffraction
单晶电子衍射
1.
Relative intensity of single crystal electron diffraction
单晶电子衍射的相对强度
补充资料:指标化
分子式:
CAS号:
性质:对已收集单晶或多晶衍射强度实验数据组在正当晶格晶轴系基向量 或倒易晶格晶轴系基向量基础上逐个赋予每个衍射以衍射指标hkl的操作过程称为(衍射)指标化。对不同晶态样品及不同收集衍射实验数据的方法,如粉晶法、回摆法、旋进法、四圆单晶仪法、面探测仪法等,其指标化的方式、进程与难易程度均各不相同,但其共同前提是先需明确确定晶体晶轴系对应的三个基向量。指标化是晶体学鉴定物相或结构分析中甚重要的先行工作。
CAS号:
性质:对已收集单晶或多晶衍射强度实验数据组在正当晶格晶轴系基向量 或倒易晶格晶轴系基向量基础上逐个赋予每个衍射以衍射指标hkl的操作过程称为(衍射)指标化。对不同晶态样品及不同收集衍射实验数据的方法,如粉晶法、回摆法、旋进法、四圆单晶仪法、面探测仪法等,其指标化的方式、进程与难易程度均各不相同,但其共同前提是先需明确确定晶体晶轴系对应的三个基向量。指标化是晶体学鉴定物相或结构分析中甚重要的先行工作。
说明:补充资料仅用于学习参考,请勿用于其它任何用途。
参考词条