1) Total reflection X-ray fluorescence analysis
全反射X射线荧光分析
2) Total reflectiion X-ray fluorescence spectroscopy
全反射X射线荧光光谱分析
3) Total reflection X ray fluorescence analysis
全反射X荧光分析
4) total reflection X-ray fluorescence analyzer
全反射X荧光分析仪
5) X-ray fluorescence analysis
X射线荧光分析
1.
X-ray fluorescence analysis has been used to track and monitor the on-site analysis of rock cuttings in oil drilling field.
本文将X射线荧光分析技术用于石油钻井现场对岩屑进行在线跟踪监测分析,针对粉末状岩屑现场连续取样,并采用多层前馈神经网络BP(Back Propagation)模型,通过数据处理将不同岩层岩性用二进制代码描述,直接输出岩性或岩层的目标向量。
2.
Energy dispersive X-ray fluorescence analysis technology is an important tool of modern analysis ways, which is applied in steel、architecture material、electronic/magnetic material、chemistry industry、petroleum and charcoal、agriculture、environmental sample field .
能量色散X射线荧光分析技术是现代分析方法中的一种重要手段,广泛应用于钢铁、建筑材料、电子/磁性材料、化学工业、石油煤炭、农业、环境样品等领域。
3.
First of all, this paper gives a review of the development and current situation of fundamental parameters method of the energy dispersive X-ray fluorescence analysis and introduces theory and experience fitting form.
首先对能量色散X射线荧光分析基本参数法发展和现状进行了综述,介绍了目前基本参数法中准确程度较高的重要物理常数、参数、荧光强度等理论或经验拟合计算公式,并对其中算法进行了深入的研究,设计并实现基本参数法的计算程序,通过初步应用,取得了如下的成果: (1)由于激发因子与荧光产额、谱线分数、吸收限跃迁因子有关,其计算程序源代码复杂,因此需要对激发因子进行研究,本论文是在前人的理论和大量实验数据基础上进行新的拟合研究,提出了激发因子的计算公式,其准确程度已达到实际的需要。
6) X-ray fluorescence
X射线荧光分析
1.
A premise of X-ray fluorescence analysis is the determined acquisition of the primary energy spectral distribution emitted by the X-ray tube,and the energy spectral distribution function affects the accuracy of the final measurement greatly.
确切知道X射线管激发的原级能谱分布是X射线荧光分析中的一个重要前提,所用能谱分布函数的准确度大大影响了最终的测量结果。
2.
The domestic and the international progress of analysis of single fluid inclusions by synchrotron radiation X-ray fluorescence in recent decades was reviewed.
本文介绍了国内外近十年来用同步辐射X射线荧光分析单个流体包裹体的发展过程和研究进展 ,以及定量分析单个流体包裹体中微量元素含量的估计和修正方法 ,并对流体包裹体在石油地质领域中的一些应用作了简要阐
补充资料：全反射X射线荧光分析
分子式：
CAS号：
性质：20世纪80年代迅速发展起来的一种高灵敏度痕量分析方法。当一束经过准直的X射线束，以低于全反射临界角φ投射到表面高度平滑的石英切割反射体（低通能量滤波器）时，低能X射线进行全反射，高能X射线被反射体材料折射和吸收而受到衰减，降低了散射背景。经全反射的高能X射线射到样品架上的μm级薄膜样品，激发被分析样品产生元素的特征X射线荧光，未被利用的入射X射线荧光被垂直放置的Si(或Li)探测器所检测，实现痕量元素的定性和定量分析。由于大大减少了原级X射线在样品架和样品上的相干和不相干散射，使散射本底较常规能量色散X射线荧光分析降低了3个数量级以上，大大降低了检出限，对原子序数大于11的大部分元素检出限可达到10-10～10-12g。此外还具有试样用样量少（μL或μg级）；可测定的元素和浓度范围广，除Na, Mg, Al, Si, P等轻元素外均可测；基体效应可以忽略；制样简便等优点。
CAS号：
性质：20世纪80年代迅速发展起来的一种高灵敏度痕量分析方法。当一束经过准直的X射线束，以低于全反射临界角φ投射到表面高度平滑的石英切割反射体（低通能量滤波器）时，低能X射线进行全反射，高能X射线被反射体材料折射和吸收而受到衰减，降低了散射背景。经全反射的高能X射线射到样品架上的μm级薄膜样品，激发被分析样品产生元素的特征X射线荧光，未被利用的入射X射线荧光被垂直放置的Si(或Li)探测器所检测，实现痕量元素的定性和定量分析。由于大大减少了原级X射线在样品架和样品上的相干和不相干散射，使散射本底较常规能量色散X射线荧光分析降低了3个数量级以上，大大降低了检出限，对原子序数大于11的大部分元素检出限可达到10-10～10-12g。此外还具有试样用样量少（μL或μg级）；可测定的元素和浓度范围广，除Na, Mg, Al, Si, P等轻元素外均可测；基体效应可以忽略；制样简便等优点。
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参考词条