1) disc detector
圆面探测器
1.
Geometry efficiency of disc detector to parallel disc source in the situation,whichC≠0(the distance from axis of detector and axis of source is called as C) is calculated by basic Monte Carlo method,and then compared with that of disc detector to disc source in the case that C=0.
用基本Monte Carlo方法计算了圆面探测器对均匀平行圆面源(两圆面中心轴线间距离为C)的几何因子,并且与圆面探测器对均匀同轴圆面源的几何因子进行了比较,探讨了两圆面中心轴线间距离C对几何因子的影响;为了检验本文方法及所编程序的好坏,选取c=0时的数据与多边形近似法进行了比较。
2.
Geometry efficiency of disc detector to disc source in the situation,which α≠0(the angle from axis of detector and axis of source is called as α),is calculated by basic Monte Carlo method,and then compared with that of disc detector to disc source in the case that α=0.
用基本Monte Carlo方法计算了圆面探测器对均匀非严格平行圆面源(两圆面中心轴线相交成α度)的几何因子,并且与圆面探测器对均匀同轴圆面源的几何因子进行了比较,探讨了两圆面中心轴线间夹角α对几何因子的影响;为了检验本文方法及所编程序的好坏,选取α=0时的数据与多边形近似法进行了比较。
3.
Geometry efficiency of disc detector to parallel disc source in the situation,whichC≠0(the distance from axis of detector and axis of source is called as C)is calculated by ellipse observation factor weight Monte Carlo method,and then com- pared with that of disc detector to disc source in the case that C=0.
用椭圆观察因子加权Monte Carlo方法计算了圆面探测器对均匀平行圆面源(两圆面中心轴线间距离为C)的几何因子,并且与圆面探测器对均匀同轴圆面源的几何因子进行了比较,探讨了两圆面中心轴线间距离C对几何因子的影响;为了检验本文方法及所编程序的好坏,选取c=0时的数据与多边形近似法进行了比较。
2) wafer prober
晶圆探测器
3) area detector
面探测器
1.
Stress maps of 304 austenitic stainless steel sheets at tensile stresses were measured and analysed by u- sing polycrystalline X-ray two-dimensional area detectors diffraction system.
利用多晶X射线面探测器衍射系统对304奥氏体不锈钢板在拉伸状态下的应力及其分布进行了检测分析。
2.
The textures of deep drawing aluminium sheets were measured with X-ray area detector diffraction system and the relationship between the two-dimensional diffraction data and ODF was investigated.
以材料织构在线检测技术为应用背景,用X射线多晶面探测器测量了深冲压铝板的织构,研究了X射线二维衍射数据与晶体取向分布函数之间的关系,分析了用面探测器采集极图上不同区域数据对计算取向分布函数的影响。
3.
The achievement of high brilliant X-ray source, the principle and application of 2-dimensional electronic area detector, image plate (IP) and charge coupled device ( CCD), were described.
介绍高亮度X射线光源的获得,能够大幅度提高衍射数据收集速度和灵敏度的二维电子面探测器成像板IP和电荷耦合器件CCD的工作原理和应用等,并通过实例说明这些技术上的重大进步正在极大地推动人们对物质微观结构的深入认识并带来巨大的成果。
4) FPA
面阵探测器
5) Detector area
探测器面积
6) charge level detector
料面探测器
补充资料：面探测器
分子式：
CAS号：
性质： 20世纪80年代出现的一类用于收集蛋白质等生物大分子晶体X射线衍射数据用的光量子强度与位置敏感的器件。最早研制的是多丝正比计数器，它的原理与气体放电计数管相似，但同时能记录光量子在多丝（X，Y）上的位置。其后又发明了成像板系统，它可避免底片的冲洗并可多次使用，当它被X光感光后，潜影可用激光扫描读出。90年代发明的CCD（电荷耦合器件）是一种全固化无运动部件的直接将光量子的强度和位置变为数字信号的面探测器，是目前最先进的一种。面探测器与任何一种相机结合后就可将晶体的衍射数据的位置与强度同步送入计算机进行处理。由于它将四圆衍射仪的逐点数据收集改为二维数据的分层收集，大大地提高了实验的效率和质量。
CAS号：
性质： 20世纪80年代出现的一类用于收集蛋白质等生物大分子晶体X射线衍射数据用的光量子强度与位置敏感的器件。最早研制的是多丝正比计数器，它的原理与气体放电计数管相似，但同时能记录光量子在多丝（X，Y）上的位置。其后又发明了成像板系统，它可避免底片的冲洗并可多次使用，当它被X光感光后，潜影可用激光扫描读出。90年代发明的CCD（电荷耦合器件）是一种全固化无运动部件的直接将光量子的强度和位置变为数字信号的面探测器，是目前最先进的一种。面探测器与任何一种相机结合后就可将晶体的衍射数据的位置与强度同步送入计算机进行处理。由于它将四圆衍射仪的逐点数据收集改为二维数据的分层收集，大大地提高了实验的效率和质量。
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条