1) ultrafast time-resolved EXAFS
超快时间分辨扩展X射线吸收精细结构
2) extended X-ray absorption fine structure
扩展X射线吸收精细结构
1.
The extended x-ray absorption fine structure (EXAFS) and x-ray diffraction (XRD) techniques have been used to study the dependence of structural changes on annealing temperature for metastable body centered cubic (bcc) Fe_ 80 Cu_ 20 alloy synthesized by mechanical alloying.
利用扩展x射线吸收精细结构和x射线衍射研究了机械合金化制备的体心立方(bcc)的亚稳态Fe80Cu20合金固溶体的结构随退火温度的变化特点。
3) extended X-ray absorption fine structure spectroscopy (EXAFS)
扩展X射线吸收精细结构光谱(EXAFS)
4) Extended X ray absorption fine structure
扩展X射线吸收精细结构谱
5) extend X ray absorption fine structure (EXAFS)
EXAFS(扩展X射线吸收精细结构谱)
6) QXAFS
快速扫描X射线吸收精细结构谱
1.
The efficiency and feasibility of the new method was discussed in terms of its association with various factops, such as moving speed of monochromator, sampling rate of data acquisition board, and data communication mode between devices, an optimal solution to obtain QXAFS was proposed.
作为一个应用实例,用快速扫描X射线吸收精细结构谱(QXAFS)测量了非晶硒在快速加热过程中的结构变化。
补充资料：扩展X射线吸收精细结构
从吸收边以上30～50电子伏特一直扩展到1000电子伏特范围内的吸收系数振荡。英文缩写EXAFS。
简史 20世纪30年代已在实验中发现EXAFS的存在，但直到70年代初才有了正确的理论解释。E.A.斯特恩等人在这方面进行了开创性的工作,确认了EXAFS主要来自吸收原子周围近邻原子的贡献，并将它发展成为研究物质结构的方法。1974年以后,同步辐射强X射线源的出现，大大推动了这一方法的发展和使用。
原理 当X射线透过物质时,强度发生衰减，若入射X射线强度为I0，物质的线吸收系数为μ,厚度为d，则衰减后的强度I＝I0e-μd。吸收系数 μ与入射 X射线的能量有关。在某些能量处，μ值会发生突变,这是由于原子内层电子被 X射线光子激发到外部连续空能级的光电吸收而引起的。吸收系数的这种突变叫做吸收边。在吸收边高能一侧，吸收系数并不是单调变化的，而是呈现某种随能量起伏的精细结构。吸收边附近的部分，称为近边结构。
由于原子光电吸收的光电子波向外传播时遇到周围其他原子的散射,这种出射波与散射波相干涉,在某些能量处相互增强，形成波峰,在某些能量处相互减弱,形成波谷，使光电吸收的几率发生变化，即引起吸收系数的振荡,这就产生了EXAFS。除单原子气体之外的物质，一般都可观测到EXAFS。
大部分EXAFS测量工作用同步辐射X射线进行，以取得好的信噪比和高的能量分辨率，并可测量含量很低的原子的EXAFS谱。利用高功率转靶X射线源或附加弯晶聚焦装置，也可测得较好的EXAFS数据。但一般说来,同步辐射EXAFS的数据质量要好得多，测量时间也短得多。
应用 EXAFS的产生与吸收原子及其周围其他原子的散射有关,即都与结构有关。因而可通过测量EXAFS来研究吸收原子周围的近邻结构，得到原子间距、配位数、原子均方位移等参量。 EXAFS方法的特点主要是可以对不同种类原子分别进行测量，给出指定元素原子的近邻结构,也可区分近邻原子的种类。利用强X射线源还可研究含量很少的原子的近邻结构状况，而且无论对于有序物质或无序物质均可进行研究。这样,EXAFS就能用于解决一些其他方法难以或不能解决的物质结构问题，引起了物理、化学、生物、材料科学等学科从事物质结构研究工作的人们的重视。在生化体系、催化剂、非晶态物质、溶液体系、聚合物等结构研究方面起了很大的作用。用此方法测量原子间距的精度一般为0.01埃，配位数和原子均方位移的相对误差约为10％。
在EXAFS原理基础上发展起来一些相关技术,如探测俄歇电子的表面EXAFS方法，可用于研究表面原子结构；电子能量损失EXAFS谱,用于探测轻元素的原子近邻结构。
简史 20世纪30年代已在实验中发现EXAFS的存在，但直到70年代初才有了正确的理论解释。E.A.斯特恩等人在这方面进行了开创性的工作,确认了EXAFS主要来自吸收原子周围近邻原子的贡献，并将它发展成为研究物质结构的方法。1974年以后,同步辐射强X射线源的出现，大大推动了这一方法的发展和使用。
原理 当X射线透过物质时,强度发生衰减，若入射X射线强度为I0，物质的线吸收系数为μ,厚度为d，则衰减后的强度I＝I0e-μd。吸收系数 μ与入射 X射线的能量有关。在某些能量处，μ值会发生突变,这是由于原子内层电子被 X射线光子激发到外部连续空能级的光电吸收而引起的。吸收系数的这种突变叫做吸收边。在吸收边高能一侧，吸收系数并不是单调变化的，而是呈现某种随能量起伏的精细结构。吸收边附近的部分，称为近边结构。
由于原子光电吸收的光电子波向外传播时遇到周围其他原子的散射,这种出射波与散射波相干涉,在某些能量处相互增强，形成波峰,在某些能量处相互减弱,形成波谷，使光电吸收的几率发生变化，即引起吸收系数的振荡,这就产生了EXAFS。除单原子气体之外的物质，一般都可观测到EXAFS。
大部分EXAFS测量工作用同步辐射X射线进行，以取得好的信噪比和高的能量分辨率，并可测量含量很低的原子的EXAFS谱。利用高功率转靶X射线源或附加弯晶聚焦装置，也可测得较好的EXAFS数据。但一般说来,同步辐射EXAFS的数据质量要好得多，测量时间也短得多。
应用 EXAFS的产生与吸收原子及其周围其他原子的散射有关,即都与结构有关。因而可通过测量EXAFS来研究吸收原子周围的近邻结构，得到原子间距、配位数、原子均方位移等参量。 EXAFS方法的特点主要是可以对不同种类原子分别进行测量，给出指定元素原子的近邻结构,也可区分近邻原子的种类。利用强X射线源还可研究含量很少的原子的近邻结构状况，而且无论对于有序物质或无序物质均可进行研究。这样,EXAFS就能用于解决一些其他方法难以或不能解决的物质结构问题，引起了物理、化学、生物、材料科学等学科从事物质结构研究工作的人们的重视。在生化体系、催化剂、非晶态物质、溶液体系、聚合物等结构研究方面起了很大的作用。用此方法测量原子间距的精度一般为0.01埃，配位数和原子均方位移的相对误差约为10％。
在EXAFS原理基础上发展起来一些相关技术,如探测俄歇电子的表面EXAFS方法，可用于研究表面原子结构；电子能量损失EXAFS谱,用于探测轻元素的原子近邻结构。
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条