1) test pattern generation
测试模式生成
1.
A TRL-based(total reconvergence line) BDD(binary decision diagram) learning heuristics is presented in this paper to improve the efficiency of test pattern generation for combinational circuits based on the Boolean satisfiability(SAT) method.
提出了基于总会聚点的有序二叉决策图(BDD)学习方法,用以提高使用布尔可满足性方法的组合电路测试模式生成系统的性能。
3) ATPG
自动测试模式生成
1.
The theorem and conditions on identifying undetectable faults can be acquired by applying combinational ATPG to ILA in sequential circuits; and the conditions are given for faulty circuit.
对时序电路的迭代逻辑阵列(ILA)施加组合ATPG(自动测试模式生成),可得到不可测故障识别的定理和条件,其条件针对故障电路给出。
4) automatic test pattern generation
自动测试模式生成
1.
This paper introduces fault model and design flow of the ATPG (automatic test pattern generation) techniques, which are utilized to test RSIC CPU manufacturing defects along with DFT(design for test) technology.
介绍了自动测试模式生成的测试故障模型和设计流程，以及自动测试模式生成结合可测性设计技术在测试ＲＳＩＣ ＣＰＵ制造缺陷中的应
2.
The goal of Automatic Test Pattern Generation(ATPG) is to reduce generation time and improve quality of test pattern, and the two key steps of ATPG are generation and optimization of test pattern set.
本文以航天科工集团公司课题:“面向数字测试的自动测试模式生成开发环境”为背景,针对数字电路测试和故障诊断中的测试生成问题,以基本蚁群算法为基础,研究数字电路测试模式的生成和优化技术。
6) automatic test pattern generation(ATPG)
自动化测试模式生成
补充资料：测试结果可接受性的检查和最终测试结果的确定
测试结果可接受性的检查和最终测试结果的确定
check of the acceptability of test results and determination of the final test result
C凡(3)二3.3d，时，取此3个结果的平均值作为最终侧试结果;否则取它们的中位数作为最终测试结果。。，为重复性标准差(即在重复性条件下所得侧试结果的标准差)。 在口田T 11792一1989中还对重复性和再现性条件下所得侧试结果可接受性的检查方法和最终测试结果的确定做了详细讨论和规定。(马毅林)ceshi 11叩uo kejieshCxjxing d6 iiancha he zuizhong ceshi】i闪旧de que心ing测试结果可接受性的检查和最终测试结果的确定(checkof山eac，ptability of test，ults助ddsterminationofthefi耐testresult)在商品检验中进行一次测试的情形不多见，当得到一个测试结果时，所得结果不可能直接与给定的重复性标准差作可接受性的检查。对测试结果的准确性有任何疑问时都应再进行一次测试。所以，对两个测试结果进行可接受性的检查是一般的情况。 可接受性的检查，实际上是一种统计检验。任何两个测试结果只要能通过可接受性的统计检验即可认为是一致的，均可接受。比如，在重复性条件下，所得结果之差的绝对值(下称绝对差)不超过相应的重复性限r(见重复性和再现性)的值，则认为两个结果是一致的，均可接受;如果两个侧试结果的绝对差超过r，则认为它们是不一致的，必须增加测试。 按国家标准《测试方法的精密度在重复性或再现性条件下所得测试结果可接受性的检查和最终测试结果的确定》(GBIT 1 1792一1989)，在重复性条件下，如果两个测试结果的绝对差不超过r的值，可取两个侧试结果的平均值作为最终测试结果。如果两个结果的绝对差超过r的值，并且测试费用较低，须再做两次测试。当4个结果的极差(即其中的最大值与最小值之差)不超过相应的临界极差c，瓜(4)二3.6a，时，取4个结果的平均值作为最终测试结果。如果两个结果的绝对差超过r的值，并且测试费用较高时，只须再作一次测试。当3个结果的极差不超过相应的临界极差
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条