1) Argon ion source
氩离子源
2) argon ion
氩离子
1.
A low energy argon ion beam has been applied to bombard the backsurface of silicon wafers after the ultrahigh frequency low power transistors are fabricated, and the noise coefficient of low frequency and high frequency can be decreased effectively, the characteristics frequency and current gain of direction current can be increased.
在完成超高频小功率晶体管的芯片和上部铝电极的制备工艺后 ,采用低能量氩离子束轰击芯片背面 ,能有效地降低其高频及低频噪声系数、提高其特征频率和电流放大系数 。
2.
when low energy argon ion beam bombards the backsurface of silicon wafers, after the high frequency low power transistor and ultrahigh frequency low power transistor are fabricated, it can increase effectively the D-C current gain hFE, the A-C current gain h21 and the character frequency fT, and improve the collector-base junction breakdown characteristics.
在制造硅ｎｐｎ型高频、超高频小功率晶体管管芯和形成铝电极后，用低能量氩离子束进行背面轰击，能显著增大晶体管的直、交流电流放大系数，提高特征频率和使击穿特性变硬。
4) argon-ion gun
氩离子枪
5) Ar~+ sputtering
氩离子轰击
1.
To make uniformly sized and spaced Ag clusters, the HOPG surface was modified by thermal oxidization and Ar~+ sputtering before Ag deposition, respectively.
本文分别采用加热氧化和氩离子轰击来改变HOPG衬底的表面结构,并用扫描隧道显微镜(STM)研究了银在它们上面的生长过程。
6) argon plasma
氩等离子体
1.
Improvement of ultrahigh molecular weight polyethylene fibers′ interface property by atmospheric argon plasma;
常压氩等离子体改善超高分子量聚乙烯纤维的界面性能
2.
Impact on water sorption and solubility of SY-1 facial elastomer treated with Argon plasma
氩等离子体对国产SY-1硅橡胶吸水率、溶解率的影响
3.
When materials processing using laminar argon plasma jets is performed in ambient air, the entrainment of air into the jets will lead to the oxidation of processed metallic materials.
在空气环境中利用氩等离子体射流进行材料加工时,环境空气卷吸进入射流可能会引起金属材料氧化。
补充资料：氩39-氩40法测年
分子式：
CAS号：
性质：将含钾样品放入核反应堆中接受快中子照射，40K核被打进一个中子，而后放出一个质子，形成39Ar，用质谱计测定被照射样品的40Ar/39Ar比值，代替常规钾-氩法中40Ar/40K比值，从而计算出样品年龄的方法，计算公式如下：t=λ-1ln(1+J•40Ar/39Ar)。式中J=39Ar/40Ar•λ/λkΔT∫φ(ε)σ(ε)dε是样品照射持续的时间，Ф(ε)是能量为ε时的中子通量，σ(ε)为39K(n，p)39Ar的反应截面，实验中用一已知年龄(ts)的标准与待测样品一块进行辐照，由下式求得J值：J=(eλt-1)/(40Ar/39Ar)。此方法解决了过去钾、氩分别由不同方法测定所产生的不同误差使年龄精度较低的弊端；同时由于照射后样品氩的释放可采用阶段加温方法，对一个样品便可获得一系列的表面年龄，最终得到代表矿物或岩石结晶的稳定坪年龄；或由等时线法处理得到样品的年龄、认识外来氩的混入状况。
CAS号：
性质：将含钾样品放入核反应堆中接受快中子照射，40K核被打进一个中子，而后放出一个质子，形成39Ar，用质谱计测定被照射样品的40Ar/39Ar比值，代替常规钾-氩法中40Ar/40K比值，从而计算出样品年龄的方法，计算公式如下：t=λ-1ln(1+J•40Ar/39Ar)。式中J=39Ar/40Ar•λ/λkΔT∫φ(ε)σ(ε)dε是样品照射持续的时间，Ф(ε)是能量为ε时的中子通量，σ(ε)为39K(n，p)39Ar的反应截面，实验中用一已知年龄(ts)的标准与待测样品一块进行辐照，由下式求得J值：J=(eλt-1)/(40Ar/39Ar)。此方法解决了过去钾、氩分别由不同方法测定所产生的不同误差使年龄精度较低的弊端；同时由于照射后样品氩的释放可采用阶段加温方法，对一个样品便可获得一系列的表面年龄，最终得到代表矿物或岩石结晶的稳定坪年龄；或由等时线法处理得到样品的年龄、认识外来氩的混入状况。
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条