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1)  planar near-field measurement
平面近场测量
1.
Effect of random errors of planar near-field measurements with ultra-low sidelobe antennas on antenna far-field pattern;
超低旁瓣天线平面近场测量中随机误差对远场方向图的影响
2.
The planar near-field measurement (PNFM) is an important testing method for phased array antennas.
平面近场测量是相控阵天线的重要测试方法,它主要完成相控阵天线的近场补相、近场测试、近场诊断等功能。
2)  planar near field measurement
平面近场测量
1.
With a two dimensional problem as an example, the effect of scattering from wall of anechoic chamber on planar near field measurements with ultra low sidelobe antennas is studied by means of computer simulation based on theory of plane wave spectrum expansion and approximation in geometrical optics.
以二维问题为例 ,基于平面波谱展开理论和几何光学近似 ,利用计算机模拟的方法研究了暗室墙壁散射对超低副瓣天线平面近场测量的影响 ,得到了一些基本的规律和有用的结
3)  Planar near field measurement in time domain
时域平面近场测量
4)  Monostatic planar near-field scattering measurements
单站平面近场散射测量
5)  Planar near field measurement of antenna
平面近场天线测量
6)  Planar near-field
平面近场
补充资料:长度计量技术:平面度测量
       长度计量技术中对平面度误差的测量。平面是由直线组成的﹐因此直线度测量中直尺法﹑光学準直法﹑光学自準直法﹑重力法等也适用於测量平面度误差。测量平面度时﹐先测出若干截面的直线度﹐再把各测点的量值按平面度公差带定义(见形位公差)利用图解法或计算法进行数据处理即可得出平面度误差。也有利用光波干涉法和平板涂色法测量平面误差的。光波干涉法常利用平晶进行﹐图 用平晶测量平面得到的干涉条纹 为测量所得的不同干涉条纹。图中a 用平晶测量平面得到的干涉条纹 的干涉条纹是直的﹐而且间距相等﹐只在周边上稍有弯曲。这说明被检验表面是平的﹐但与光学平晶不平行﹐而且在圆周部分有微小的偏差。图中b 用平晶测量平面得到的干涉条纹 的干涉条纹弯曲而且间隔不相等﹐表明被检验表面是球形的﹐平晶有微小倾斜。条纹弯曲度约为条纹间距的1.5倍﹐表示平面度误差为1.5×0.3μm=0.45μm。图中c 用平晶测量平面得到的干涉条纹 的干涉条纹呈圆形﹐同样表明被检验表面是球形表面。将条纹数目乘以所用光束波长的一半﹐即得所求的平面误差为1.5×0.3μm=0.45μm。图中d 用平晶测量平面得到的干涉条纹 的干涉条纹成椭圆形排列﹐说明被检验表面是桶形的。可以把干涉图案作为被检验表面的等高线﹐因此可以画出该表面的形状。这种方法仅适宜测量高光洁表面﹐测量面积也较小﹐但测量精确度很高。
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参考词条