1) technology attenuation length
技术衰减长度
1.
The performance parameters of the long plastics scintillation such as technology attenuation length are measured, and the satisfactory teaching effect is achieced in the experiment.
将长塑料闪烁计数器引入核与粒子物理实验教学 ,实验中测量了长塑料闪烁体技术衰减长度等性能参量 ,并取得了较好的教学效果 。
3) Attenuation length
衰减长度
1.
It includes three aspects: the time resolution, the attenuation length and the effective speed of light.
在北京正负电子对撞机直线加速器试验束上测试TOF闪烁体在不同光反射材料下(tyvek, teflon,millipore,ESR及镀铝薄膜)的性能,包括时间分辨率,衰减长度及光在闪烁体中的有效传播速度。
2.
We also studied the factors which affect the light yield and attenuation length of liquid scintillator.
简要介绍了用于反应堆中微子实验的液体闪烁体的成分,描述了液闪衰减长度和光产额的测量原理、方法、装置及过程,给出了不同配比的液闪的光产额和衰减长度的测量结果,并对液闪光产额和衰减长度的性能及影响因素进行了研究。
3.
Using 800MeV/c electron beam, the time resolution and attenuation length of light transition in plastic scintillators, BC408 and EJ200 packed with Al foil and Tyvek paper, are measured respectively.
利用动量为800MeV/c的电子束,对应用不同包装材料(铝膜和Tyvek)的不同闪烁体(BC408和EJ200)的时间分辨率和光传输衰减长度分别进行测量,以铝膜包装EJ200为最佳选择,其本征时间分辨率(标准偏差)好于90ps,达到BESⅢ的设计指标。
4) tenuation technique
波衰减技术
5) γ-ray attenuation technology
γ射线衰减技术
1.
The solid concentration of gas-solid two-phase flow in a fluid catalytic cracking riser (φ186 mm×12 m) is measured with γ-ray attenuation technology.
在实验室流化床装置上用γ射线衰减技术对φ186mm×12m提升管内的FCC催化剂颗粒浓度进行了测量。
6) ultrasonic attenuation technique
超声波衰减技术
补充资料：长度计量技术：光栅测长技术
利用光栅產生的莫尔条纹测量位移和轮廓形状等的长度计量技术。测量位移时﹐将计量光栅副中的光栅尺和指示光栅分别固定在长度测量工具或机床等的移动件(例如滑架)和不动件(例如机床导轨)上。两者相隔一个很小的间隙(一般为 0.05～0.1毫米)。当滑架移动时﹐出现在光栅副上的莫尔条纹的週期性光强变化﹐通过光电转换元件转换为正弦波形电信号﹐经放大﹑整形﹑细分﹑计数和显示等电子部分后即可得出光栅位移量。由光源﹑计量光栅副和光电转换元件等组成的部件称为光栅式长度传感器。由光栅式长度传感器和放大﹑整形﹑细分﹑计数和显示等电子部分组成的系统称为光栅测量系统(见图 光栅测量系统 )
﹐常用具有相位依次差1/4线距的四组线条的光栅作为指示光栅。当以圆光栅副代替长光栅副时﹐类似的测量系统可用於测量角位移。长﹑圆光栅测量系统的精确度分别可达 1微米/1000毫米和0.5/360°以上。随著光栅製造技术和电子技术的发展﹐从20世纪50年代开始应用光栅测长技术来测量位移。这种方法已用於三坐标测量机﹑数字显示工具显微镜﹑渐开线测量仪﹑齿轮单面嚙合检查仪和电子千分尺等的测量系统中﹐也常用於数字控制机床的定位反馈系统和其他机床的定位系统中。70年代又开始利用莫尔轮廓图测量表面轮廓形状和变形等。
﹐常用具有相位依次差1/4线距的四组线条的光栅作为指示光栅。当以圆光栅副代替长光栅副时﹐类似的测量系统可用於测量角位移。长﹑圆光栅测量系统的精确度分别可达 1微米/1000毫米和0.5/360°以上。随著光栅製造技术和电子技术的发展﹐从20世纪50年代开始应用光栅测长技术来测量位移。这种方法已用於三坐标测量机﹑数字显示工具显微镜﹑渐开线测量仪﹑齿轮单面嚙合检查仪和电子千分尺等的测量系统中﹐也常用於数字控制机床的定位反馈系统和其他机床的定位系统中。70年代又开始利用莫尔轮廓图测量表面轮廓形状和变形等。 说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条