1) Measurement of microwave characteristic
微波特性测量
2) microwave measurement
微波测量
1.
A hollow dielectric resonator was designed by using Superfish software for the microwave measurement of HTS single crystals.
利用superfish软件设计了一个用于超导单晶微波测量的空腔介质谐振器。
2.
According to the basic principle of microwave measurement and with the present instruments at radar stations,a practicable method of measuring insertion loss in radar transmission line is presented.
根据微波测量的基本原理 ,利用雷达台站现有的仪器设备 ,介绍了对天气雷达天馈系统的插入损耗进行定量测量的方法和注意事项 ,并给出了 71 3C天气雷达的天馈系统的测量结果。
3.
As the rapid development of the large-scale integrated circuits,computer technology,signal processing technology and software technology, microwave measurement can be implemented by software technology today instead of original hardware technology.
微波测量是微波技术的一个重要分支。
3) microwave measurements
微波测量
1.
A distributed microwave measurement system based on Ethernet was designed and implemented in order to meet the requirements of mass-data remote microwave measurements, such as high resolution microwave imaging.
为了满足高分辨率微波成像等大数据量远距离微波测量的需求,设计并实现了一个基于以太网的分布式微波测量系统。
4) Microwave characteristics
微波特性
1.
GaN-based HEMTS on Si substrates were fabricated,and the DC and microwave characteristics were introduced.
介绍了Si衬底上外延生长GaN基HEMT的制备及其直流特性与微波特性的研究结果:栅宽200μm器件Vgs=0 V时饱和电流密度达0。
5) microwave properties
微波特性
1.
Effect of technological factors upon microwave properties of the Ba 6-3 x (Sm 1- y Nd y ) 8+2 x Ti 18 O 54 ceramic;
工艺因素对Ba_(6-3x)(Sm_(1-y)Nd_y)_(8+2x)Ti_(18)O_(54)陶瓷微波特性的影响
2.
The structure and the microwave properties of BaO TiO 2 Nd 2O 3 Ta 2O 5(BTNT) system are investigated in this paper.
研究了 Ba O- Ti O2 - Nd2 O3- Ta2 O5(BTNT)系陶瓷材料的结构和微波特性。
3.
The effects of MnCO_3 on the structure and microwave properties of complex perovskite Ba(Mg_(1/3)Ta_(2/3))O_3 ceramic were investigated as a function of the amount of MnCO_3 from 0.
5%～5%(质量分数)对复合钙钛矿Ba(Mg1/3Ta2/3)O3(BMT)系陶瓷结构和微波特性的影响。
补充资料：硅钢片磁特性测量
反映硅钢片磁特性的各种磁学参量的测量。硅钢片(带)是电工中用量最大的导磁材料，其磁特性数据是设计电机、电器等设备的依据，并决定电工设备的性能和经济效益。
电工用硅钢常轧制成标准尺寸的大张板(片)材或带材。不同用途的材料，其含硅量和板（片）材厚度均不同。20世纪70年代以来，非晶硅钢带材因无磁晶各向异性，具有非常好的软磁特性，因而得到较快地发展。
硅钢片(带)磁特性主要有磁通密度、磁导率、矫顽力、铁损等，通常针对测量要求和试样形状，利用爱泼斯坦仪或中场磁导计进行测量。爱泼斯坦仪用于测量硅钢片的平均磁特性。硅钢片一般轧制而成，沿轧制方向与垂直轧制方向的磁特性差别较大，因此测量硅钢片的平均磁特性时，须注意试样的选取方式。若对整张硅钢片进行测量，可采用中场磁导计。如在整张硅钢片上取一小条作试样，可利用如图所示的简单中场磁导计进行测量。试样中的磁通或磁通密度利用测量线圈和平均值电压表测量（见磁场测量）。磁场强度则用硬磁位计紧贴在试样表面上测量。磁导计本身是由硅钢片叠成的U状磁轭,上面缠绕励磁线圈。改变励磁电流 I可改变试样中的磁化情况。测整张硅钢片的中场磁导计的测量线路与图示相同。
对硅钢薄带材的磁特性进行测量时，一般将薄带卷成镯形试样，再按软磁材料测量的方法进行测量。
电工用硅钢常轧制成标准尺寸的大张板(片)材或带材。不同用途的材料，其含硅量和板（片）材厚度均不同。20世纪70年代以来，非晶硅钢带材因无磁晶各向异性，具有非常好的软磁特性，因而得到较快地发展。
硅钢片(带)磁特性主要有磁通密度、磁导率、矫顽力、铁损等，通常针对测量要求和试样形状，利用爱泼斯坦仪或中场磁导计进行测量。爱泼斯坦仪用于测量硅钢片的平均磁特性。硅钢片一般轧制而成，沿轧制方向与垂直轧制方向的磁特性差别较大，因此测量硅钢片的平均磁特性时，须注意试样的选取方式。若对整张硅钢片进行测量，可采用中场磁导计。如在整张硅钢片上取一小条作试样，可利用如图所示的简单中场磁导计进行测量。试样中的磁通或磁通密度利用测量线圈和平均值电压表测量（见磁场测量）。磁场强度则用硬磁位计紧贴在试样表面上测量。磁导计本身是由硅钢片叠成的U状磁轭,上面缠绕励磁线圈。改变励磁电流 I可改变试样中的磁化情况。测整张硅钢片的中场磁导计的测量线路与图示相同。
对硅钢薄带材的磁特性进行测量时，一般将薄带卷成镯形试样，再按软磁材料测量的方法进行测量。
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条