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1)  computed tomography imaging spectrometer
计算层析成像光谱仪
1.
A temporally and spatially non scanning imaging spectrometercomputed tomography imaging spectrometer (CTIS) is introduced.
介绍一种无需时间或空间扫描的新型成像光谱仪计算层析成像光谱仪 (CTIS) ,并对其基本原理进行了详细叙述和方程式表达。
2)  computer tomograph imaging spectrometer(CTIS)
计算层析成像光谱仪(CTIS)
3)  computed-tomography imaging interferometer
干涉型计算层析成像光谱仪
1.
An algorithm of image spectral data cube reconstruction for the computed-tomography imaging interferometer(CTII) is presented.
针对干涉型计算层析成像光谱仪(CTII)提出了一种光谱图像数据立方体的重建方法。
4)  Tomography imaging spectrometry
层析成像光谱仪
5)  non-scanning computed-tomograpby imaging spectrometer
层析成象光谱仪
6)  computerized tomography
计算机层析成像
1.
This paper introduces one method of high resolution image reconstruction based on the pixel offset,analyzes on the corresponding relation between each pixel position and the grey level of the pixel detection image, and through the computer s stimulation, realizes the pixel scansion and image reconstruction of the computerized tomography with the satisfied reconstruction results.
介绍了基于像素错位的多幅图像重建高分辨率图像技术,分析了错位检测图像各像素位置及灰度值的对应关系,并通过计算机仿真实现了计算机层析成像检测的错位扫描和图像重建,并得到了满意的重建结果。
补充资料:计算机层析摄影
      以电子计算机为手段,用X射线对被测物体进行扫描,用专用算法重构图像,自动进行图像处理,并对断层图像显示或摄影进行分析的技术,又称计算机X射线层析扫描,英文缩写CT。X射线束在某一断面的360°的范围内,从不同方向射入对象物,计算机根据不同断面和不同方向的X射线透射后的强度数值,清晰地重构并显示出其内部构造的断面图像。以往的X射线摄影是把三维对象投影为二维图像,常常出现影像重叠不清晰等问题。X射线CT能避免影像重叠。另外,检测器的灵敏度远较X线胶片高,可以分辨很小的密度差别,在图像中可以显示X射线平片无法显示的结构(如脑室、视神经等),在医疗临床应用方面有极大的优越性。一般认为,计算机 X射线层析摄影技术的出现,是继X射线诊断技术之后的又一次革命性的突破。因此,1971年首先研制并使用计算机X射线层析摄影的英国G.N.豪恩斯费尔德和美国的A.M.科马克曾获得1979年诺贝尔生理学医学奖金。最初的CT仅应用于头颅,后来又有全身电子计算机 X射线层析显像和摄影机问世。
  
  计算机X射线层析摄影机是由扫描装置、检测电路、图像重构计算机系统等组成(见图)。扫描装置完成断层一周的精密扫描,检测电路对采集的信号进行对数变换、积分、灵敏度补偿和模数转换,再送至电子计算机。图像重构计算机一般采用专用快速处理机结构形式。主机为通用机,承担信息调度、人机对话和外部设备管理,而专用处理机则在主机的监控下高速进行图像重构运算并打印出CT值。最初一幅图像的测量时间需4~5分钟,80年代已缩短至1秒以内。CT的种类也由X射线 CT发展到不同射线的核磁共振CT、电子发射CT等。但一般称呼的CT是指X射线CT。图像重构有直接矩阵法、逐次逼近法、总和法、卷积反投影法等方法。其中卷积反投影法的运算量小、质量好,应用较为广泛。CT主要用于医疗自动诊断方面,可借以观察不同器官、不同密度的各类组织吸收 X射线的差异(密度分辨率可小于0.5%),能清楚地辨别肿瘤、血肿、水肿、梗塞、坏死和囊变组织等,不仅能显示质的变化,而且还能进行定量诊断。此外,
  
  CT还可用于工业中的自动检测、自动无损探伤和材料结构分析等方面,如无损断面检查,内部缺陷杂质检查,尺寸、形状、密度组成分布测量,内部状态观察,火箭固体燃料、弹头炸药与核燃料选择等。
  

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