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1)  Microsurvey system
显微测量系统
2)  CCD micro-measuring system
CCD显微测量系统
3)  Stroboscopic microscopic interferometer system
频闪显微干涉测量系统
4)  micro monitoring system
显微监测系统
1.
According to the relationship between turning tools\' wear and work-piece texture,a micro monitoring system is researched and designed.
根据车刀磨损与工件表面纹理内在关系,研究和设计了显微监测系统。
5)  metrological AFM of nanomeasuring system
计量型原子力显微镜纳米测量系统
1.
The AFM is one of important and useful nanomeasuring instruments,we have developed the metrological AFM of nanomeasuring system at NIM.
中国计量科学研究院成功研制了计量型原子力显微镜纳米测量系统,本文介绍了该系统的技术特点和指标,并通过与发达国家的比对测试验证了该系统在测量原理、测量精度及可溯源性方面已达到了国际先进水平。
6)  micro-measurement
显微测量
1.
The errors are inevitable in the micro-measurement of image because of many kinds of effects.
为了充分认识并进而减小这些误差,提高测量精度,文章对标准件标定、显微光学系统的景深、对焦、光照亮度以及温度等影响测量结果的误差源作了细致的研究,给出了半导体芯片电路线宽显微测量结果及精度分析。
2.
This project is self-planning engineering application research project, The mainpurpose is to reconstruct all-purpose tool microscope which is widely used in factorypractice, and to get a set of micro-measurement system, finish micro-zoom on miniatureparts and image capture、process and measure.
本课题是自拟工程应用类科研项目,主要研究目标是:对目前工厂应用非常广泛的万能工具显微镜进行改造,搭建出一套显微测量系统,完成对微型零件的显微放大及图像的采集、处理和测量,并最终给出被测零件特征尺寸的测量结果,以及对测量结果进行数据处理和精度分析。
补充资料:长度测量工具:工具显微镜

            以测量显微镜瞄準﹑能在﹑两个坐标内进行测量的通用光学长度测量工具(图1 万能工具显微镜 )。测量显微镜又称主显微镜。它的分划板上有供瞄準用的米字形﹑螺纹轮廓形和其他形状的标线。工具显微镜是20世纪20年代初期发展起来的﹐初期用於螺纹测量等﹐20年代后期出现万能工具显微镜。70年代以后﹐应用光栅测长技术后出现数字显示工具显微镜。80年代中期出现应用电子计算机技术处理测得数据的工具显微镜。
         分类和结构 工具显微镜分小型﹑大型和万能 3种类型﹐其常见的测量范围分别为50×25毫米﹐150×75毫米和200×100毫米。它们都具有能沿立柱上下移动的测量显微镜和坐标工作台。测量显微镜的总放大倍数一般为 10倍﹑20倍﹑50倍和100倍。小型和大型的坐标工作台能作纵向和横向移动﹐一般採用螺纹副读数鼓轮﹑读数显微镜或投影屏读数﹐也有採用数字显示的﹐分度值一般为10微米﹑5微米或1微米。万能工具显微镜的工作台仅作纵向移动﹐横向移动由装有立柱和测量显微镜的横向滑架完成﹐一般採用读数显微镜﹑投影屏读数或数字显示﹐分度值为1微米。工具显微镜的附件很多﹐有各种目镜﹐例如螺纹轮廓目镜﹑双像目镜﹑圆弧轮廓目镜等﹐还有测量刀﹑测量孔径用的光学定位器和将被测件投影放大后测量的投影器。此外﹐万能工具显微镜还可带有光学分度台和光学分度头等。
         用途和测量方法 工具显微镜主要用於测量螺纹的几何参数﹑金属切削刀具的角度﹑样板和模具的外形尺寸等﹐也常用於测量小型工件的孔径和孔距﹑圆锥体的锥度和凸轮的轮廓尺寸等。工具显微镜的基本测量方法有影像法和轴切法。影像法﹕利用测量显微镜中分划板上的标线瞄準被测长度一边后﹐从相应的读数装置中读数﹐然后移动工作台(或横向滑架)﹐以同一标线瞄準被测长度的另一边﹐再作第二次读数。两次读数值之差即被测长度的量值。图2 用影象法测量样板尺寸 为利用影像法测量样板的L 尺寸。轴切法﹕测量过程与影像法相同﹐但瞄準方法不同。测量时分划板上的标线不直接瞄準被测长度的两边﹐而瞄準与被测长度相切的测量刀上宽度为3微米的刻线﹐以此来提高瞄準精度(见螺纹测量)。  

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参考词条