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1)  Parametric sweep analysis
参数扫描分析
1.
An effective method is proposed by concatenating parametric sweep analysis, optimization analysis with Monte-Carlo analysis based on PSpice, it can enhance accuracy, reliability and eligibility.
本文提出一种基于PSpice的参数扫描分析、优化分析和蒙特卡罗统计分析相结合的方法对电子电路进行最优化设计,可以有效地提高电路设计的准确性、可靠性和电子产品生产的合格率,并以带通滤波器电路为例,给出了应用该方法实现电路优化设计的仿真过程,实验表明优化设计的结果完全满足设计指标的要求。
2)  Parametric sweep
数扫描分析
3)  scanning parameter
扫描参数
1.
Study on the scanning parameters affecting surface roughness measurements by AFM;
AFM扫描参数对表面粗糙度测量的影响分析
2.
Scanning parameter measurement and projected image correction for microfocus X-ray imaging system;
微焦点X射线成像系统扫描参数测量及投影图像校正研究
3.
This paper is to present you the types of detectors in the multi-slice CT system, its main scanning parameters, its advantages, limitations and clinical applications.
本文就多层CT机的探测器类型、主要扫描参数,优越性和局限性以及临床应用的拓展作了介绍。
4)  scanning parameters
扫描参数
1.
Study on the scanning parameters of the best density resolution for Helical CT and the clinical application;
螺旋CT最佳图像密度分辨力时扫描参数的研究
2.
In this paper, the definitions of the main scanning parameters of the DiaInspect image analyzing system are briefly introduced.
本文简要介绍了D iaInspect系统主要扫描参数的定义说明,初步分析了其扫描参数透明度、椭圆度、粗糙度与表征金刚石质量的主要指标TTI值(热冲击值)之间的关系。
3.
Objective To analyze and discuss how the scanning parameters influence the quality of dual source CT(DSCT) images by the various settings and the corresponding scans.
目的:通过对双源CT各种扫描参数的设置并扫描来分析与探讨这些参数是如何影响图像质量。
5)  scan parameter
扫描参数
1.
The scan parameters, timing of enhancement, pattern of 3D rec.
方法 回顾分析了54例成功进行了泌尿系螺旋CT三维重建的病例,其中46例使用了造影剂,扫描及重建分别在PQ6000CT机和工作站上进行,逐一分析各病例的扫描参数。
2.
Image quality of multi-slice helical CT is affected by many factors and directly related with the scan parameter settings.
多排螺旋CT的图像质量受很多因素的影响,扫描参数的设定直接关系到图像质量,而高对比度分辨率是衡量图像质量的重要参数。
6)  parameter sweep
参数扫描
1.
A fault tolerant grid scheduling algorithm for coarse-grained tasks based on parameter sweep applications;
一种基于参数扫描应用容错的粗粒度网格调度算法
2.
This article introduces how to simulate circuits with EWBs parameter sweep function.
介绍了如何使用 EW B的参数扫描功能对模拟电路进行分析。
补充资料:扫描电子显微镜(见扫描电子显微术)


扫描电子显微镜(见扫描电子显微术)
scanning eleetron mieroseoPe

扫描电子显微镜scanning eleetron mieroseope见扫描电子显微术。
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参考词条