说明:双击或选中下面任意单词,将显示该词的音标、读音、翻译等;选中中文或多个词,将显示翻译。
您的位置:首页 -> 词典 -> 内环测试
1)  loop-back test
内环测试
1.
This paper describes the principle and process about the local loop-back test on the FCC of MPC8260 microprocessor,including the setting of all the registers and the setup of FCC.
本文详细描述了MPC8260处理机芯片的FCC内环测试的原理和实现流程,并给出了所有的相关寄存器的设置。
2)  Test content
测试内容
1.
There have been considerable changes in the test content,item type,and the washback of the tests on English teaching and learning since the reform.
改革前后四、六级考试在测试内容、题型及其对教与学的反拨作用方面发生了较大变化。
2.
Negative washback results in design and utilization of the test which can be traced back to the discrepancy between test contents and teaching and learning goals.
负面反拨效应产生于两个方面:试题的设计和测试的使用,其源在于测试内容与教学目标的不一致。
3)  built-in test
机内测试
1.
Complex aerospace and spaceflight system has dynamic and stochastic faults because of the wide use of various fault-tolerance technologies,the conventional fault diagnosis strategy design methods based on static failure mechanism is inappropriate to its built-in test(BIT) design.
由于大量采用各种容错技术,复杂航空航天系统具有动态随机性故障,已不再适合采用基于静态故障机理的传统故障诊断策略设计方法对其进行机内测试(BIT)设计。
2.
The definition and implementing flow of the field demonstration method for quantitative built-in test(BIT) requirements are described.
阐述了机内测试(BIT)定量要求现场试验验证方法的内涵和实施流程。
3.
With the deep research and comprehensive application of BIT(built-in test),exigent demands for the validation and estimate have been brought forward,and this field becomes a new focus on research.
随着机内测试(Built-in Test,BIT)的深入研究和广泛应用,对其验证和评价提出了迫切要求,也使这一领域成为新的研究热点。
4)  in-circuit test
路内测试
1.
The development of in-circuit testing system of PCB;
PCB路内测试系统的开发
2.
This paper introduces the basic theory of the in-circuit test.
本文阐述了路内测试的基本原理,探讨了基于路内测试的电路板故障诊断方法,研究了采用路内测试设备进行舰船电子装备维修测试与故障诊断的有关技术问题。
5)  BIT [英][bɪt]  [美][bɪt]
机内测试
1.
Analysis and Design for Modularization of BIT System;
机内测试系统模块化的分析与设计
2.
Design of BIT for an Electric Equipment;
某电子装备的机内测试系统设计
3.
Based on the mechanism of the false alarm and built-in test (BIT) system information treating process, a model was established for calculating false alarm rate (FAR).
根据虚警产生的机理及机内测试(BIT)系统信息处理流程对虚警率建模。
6)  test in the missile
弹内测试
补充资料:测试结果可接受性的检查和最终测试结果的确定


测试结果可接受性的检查和最终测试结果的确定
check of the acceptability of test results and determination of the final test result

  C凡(3)二3.3d,时,取此3个结果的平均值作为最终侧试结果;否则取它们的中位数作为最终测试结果。。,为重复性标准差(即在重复性条件下所得侧试结果的标准差)。 在口田T 11792一1989中还对重复性和再现性条件下所得侧试结果可接受性的检查方法和最终测试结果的确定做了详细讨论和规定。(马毅林)ceshi 11叩uo kejieshCxjxing d6 iiancha he zuizhong ceshi】i闪旧de que心ing测试结果可接受性的检查和最终测试结果的确定(checkof山eac,ptability of test,ults助ddsterminationofthefi耐testresult)在商品检验中进行一次测试的情形不多见,当得到一个测试结果时,所得结果不可能直接与给定的重复性标准差作可接受性的检查。对测试结果的准确性有任何疑问时都应再进行一次测试。所以,对两个测试结果进行可接受性的检查是一般的情况。 可接受性的检查,实际上是一种统计检验。任何两个测试结果只要能通过可接受性的统计检验即可认为是一致的,均可接受。比如,在重复性条件下,所得结果之差的绝对值(下称绝对差)不超过相应的重复性限r(见重复性和再现性)的值,则认为两个结果是一致的,均可接受;如果两个侧试结果的绝对差超过r,则认为它们是不一致的,必须增加测试。 按国家标准《测试方法的精密度在重复性或再现性条件下所得测试结果可接受性的检查和最终测试结果的确定》(GBIT 1 1792一1989),在重复性条件下,如果两个测试结果的绝对差不超过r的值,可取两个侧试结果的平均值作为最终测试结果。如果两个结果的绝对差超过r的值,并且测试费用较低,须再做两次测试。当4个结果的极差(即其中的最大值与最小值之差)不超过相应的临界极差c,瓜(4)二3.6a,时,取4个结果的平均值作为最终测试结果。如果两个结果的绝对差超过r的值,并且测试费用较高时,只须再作一次测试。当3个结果的极差不超过相应的临界极差
  
说明:补充资料仅用于学习参考,请勿用于其它任何用途。
参考词条