1) statistical coverage testing
统计覆盖测试
1.
Research of software testing adequacy based on statistical coverage testing technology;
基于统计覆盖测试技术的软件测试充分性研究
2) coverage test
覆盖测试
1.
Implementation of assembler program coverage testing with GNU tool;
利用GNU工具实现汇编程序覆盖测试
2.
Through going deep into research,a coverage test tool model about ARM system embedded software is introduced,the design principle,system model and functional module are given,a concrete illumination about every module is given,puts emphasis on the lexical analysis,parsing and the mode of in- strumentation,and brings forward a new mode.
随着嵌入式系统的复杂性不断提高,嵌入式软件测试变得越来越重要;通过对ARM系统软件进行深入的研究,提出了一种应用于ARM嵌入式软件系统的覆盖测试工具的设计原理、系统模型及组成模块,分别就各个模块的具体设计进行了详细说明,着重探讨了词法语法分析和插装方式,提出了一种新的词法语法分析和插装方式;该工具能够实现ARM系列嵌入式软件的自动测试,测试了代码执行的覆盖情况。
3.
The method and principle of the coverage test is discussed.
在实际应用中覆盖测试分析采用测量方法的多样性决定了代码插装需要识别程序结构特征的复杂性。
3) coverage testing
覆盖测试
1.
An algorithm is proposed for calculating the branch routes of an embedded assembly program in software coverage testing.
说明了覆盖测试是软件测试中的重要方法,是软件动态测试的基本手段。
2.
Coverage testing and performance analysis is the important testing technique of the embedded software in the embedded development environment.
嵌入式软件的覆盖测试和性能分析是嵌入式环境下重要的测试方法，所以开发嵌入式环境下的覆盖测试和性能分析工具有一定的现实意义。
3.
An algorithm is proposed for calculating the unreachable instructions of an embedded assembly program in software coverage testing.
说明了覆盖测试是软件测试中的重要方法,是软件动态测试的基本手段。
5) test coverage
测试覆盖率
1.
Namely,the method and optimization works applied here greatly improve DFT quality and its test coverage.
介绍了VLSI芯片的测试技术及故障模型,针对一款数字电视接收系统解调芯片,从设计中不同的阶段分析了集成电路的可测试性设计及其优化,解决了由于集成大量存储器引起的测试覆盖率低的问题,完成了该芯片满足时序要求的可测试性设计及优化过程,达到了流片要求。
2.
With the increasing enhancement of chip indensity and progress of manufacture technology,new test methodologies and fault models need to be developed to meet the target of high test coverage and product yield.
随着芯片集成度的持续提高以及制造工艺的不断进步,对测试覆盖率和产品良率的严格要求,需要研究新的测试方法和故障模型。
3.
This paper presents a method,which uses metaheuristic search techniques for test date generation,to improve test coverage for the part of low probability to be executed in the programme under test.
这种方法能够针对测试中低概率执行部分产生测试数据,提高测试覆盖率,并通过实验举例说明了该方法的可行性。
补充资料：测试结果可接受性的检查和最终测试结果的确定
测试结果可接受性的检查和最终测试结果的确定
check of the acceptability of test results and determination of the final test result
C凡(3)二3.3d，时，取此3个结果的平均值作为最终侧试结果;否则取它们的中位数作为最终测试结果。。，为重复性标准差(即在重复性条件下所得侧试结果的标准差)。 在口田T 11792一1989中还对重复性和再现性条件下所得侧试结果可接受性的检查方法和最终测试结果的确定做了详细讨论和规定。(马毅林)ceshi 11叩uo kejieshCxjxing d6 iiancha he zuizhong ceshi】i闪旧de que心ing测试结果可接受性的检查和最终测试结果的确定(checkof山eac，ptability of test，ults助ddsterminationofthefi耐testresult)在商品检验中进行一次测试的情形不多见，当得到一个测试结果时，所得结果不可能直接与给定的重复性标准差作可接受性的检查。对测试结果的准确性有任何疑问时都应再进行一次测试。所以，对两个测试结果进行可接受性的检查是一般的情况。 可接受性的检查，实际上是一种统计检验。任何两个测试结果只要能通过可接受性的统计检验即可认为是一致的，均可接受。比如，在重复性条件下，所得结果之差的绝对值(下称绝对差)不超过相应的重复性限r(见重复性和再现性)的值，则认为两个结果是一致的，均可接受;如果两个侧试结果的绝对差超过r，则认为它们是不一致的，必须增加测试。 按国家标准《测试方法的精密度在重复性或再现性条件下所得测试结果可接受性的检查和最终测试结果的确定》(GBIT 1 1792一1989)，在重复性条件下，如果两个测试结果的绝对差不超过r的值，可取两个侧试结果的平均值作为最终测试结果。如果两个结果的绝对差超过r的值，并且测试费用较低，须再做两次测试。当4个结果的极差(即其中的最大值与最小值之差)不超过相应的临界极差c，瓜(4)二3.6a，时，取4个结果的平均值作为最终测试结果。如果两个结果的绝对差超过r的值，并且测试费用较高时，只须再作一次测试。当3个结果的极差不超过相应的临界极差
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条