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1)  fiber probe of near field optical microscopy
近场光学显微镜光纤探针
2)  near-field optical microscope probe
近场光学显微镜探针技术
3)  Near-field optical microscopy
近场光学显微镜
1.
A simple dynamic chemical etching device based on siphon principle is developed for fabrication of optical fiber probes which are commonly used in near-field optical microscopy.
基于虹吸原理 ,设计了一种动态化学腐蚀法的简易装置 ,用于制备近场光学显微镜光纤探针
2.
he development of near-field optical microscopy and the primary principles are described.
讨论了近场光学显微术发展及其理论知识,重点介绍了近场光学显微镜的工作原理、构造设计、工作方式等,概述了近场光学显微术的应用领域和应用成果,探讨了近场光学显微术目前存在的主要问题和需要解决的问题。
4)  NSOM
近场光学显微镜
1.
The basic principle of the near field scanning optical microscope(NSOM) is introduced.
介绍了近场光学显微镜的基本原理 ,并利用微波代替可见光模拟了近场光学显微镜实
5)  near-field optical microscope
近场光学显微镜
1.
With near-field optical microscope,the static photochromic property of BR-D96N film is investigated based on its transition between B state and M state.
 结合近场光学显微镜,利用菌紫质M态和基态之间的跃迁,对BR-D96N样品作了静态近场光存储特性的研究。
6)  Near-field scanning optical microscope
近场光学显微镜
1.
Near-field scanning optical microscope (NSOM) is a new type microscope, which use sample抯 near-field optical signal to make dynamic imaging.
近场光学显微镜(NSOM)是利用样品近场光信号成像的一种光学显微镜,它的应用使人们突破光学显微镜的衍射极限,以光学的方法,观察得到样品微米以及纳米尺度的形貌和光学图像,为科学研究提供新的方法和手段,在纳米科技发展中将具有重要的应用价值。
2.
Near-field scanning optical microscope (NSOM) has improved the resolution of conventional optical microscope beyond the diffraction limit, therefore we can observe and study objects topography and internal characters in less than sub-micron scale by optical method.
近场光学显微镜(NSOM)突破了传统光学显微镜分辨率衍射极限,使人们可以用光学方法在小于亚微米的尺度上观察和研究物体的外观形貌和内在性质,为科学、技术和生产的发展提供了新的手段和知识。
3.
Fiber probes for near-field scanning optical microscope were fabricated using the improved Turner method.
采用改进的Turner法制备近场光学显微镜光纤探针,考察了外界因素、腐蚀溶液及保护液体系性质等对探针形貌的影响,并与管式腐蚀方法制备的光纤探针的形貌进行了对比,对Turner法制备光纤探针的工艺进行了改进。
补充资料:场离子显微术及原子探针


场离子显微术及原子探针
field ion microscopy and atom probe

  场离子显微术及原子探针field ion mieroscoPyand atom probe应用制成针尖状试样表面的场电离及场蒸发原理,观察金属表面原子排列并在原子尺度进行显微分析的仪器及技术。1956年E.W.米勒(Mul-ler)在针尖试样上施加正电压,用液氮冷却样品并在样品周围充入氦气,得到了能够分辨单个原子的钨场离子象,奠定了场离子显微镜的基础。 基本原理场离子显微镜是应用场电离原理制成的。在超高真空及液氮温度下,在针尖状(曲率半径小于1000人)金属试样上施加5一20kV正高压,使试样尖端获得很高的场强(4一SV/人),能将靠近试样表面的成象气体(常用氦气)通过隧道效应在针尖表面产生场电离。成象气体分子在针尖附近被极化,然后被吸引到带正电的针尖表面并在低温的针尖表面上连续地跳跃,不断地损失其动能而降低跳跃振幅直到在某些特定的表面原子(凸出位置)附近被电离(图l)。电离后正离子沿场强方向飞向荧光屏,在荧光屏上即可观察到场离子象。/庐了少丫/丈卡/入场吸附嵘子.凸出原子离化气体X场电离区.极化产毛体: 图l成象气体在针尖表面电离机理示意 原子探针是应用场蒸发原理制成的。在超高真空及液氮冷却试样条件下,在针尖试样上施加足够的正高压,试样表面原子开始形成离子并离开针尖表面。这称场燕发。有两种物理模型(镜象势垒和电荷交换模型)描述场蒸发过程,认为针尖试样表面在电场(F)作用下使原子获得活化能(Q),克服金属表面势垒而离开表面。这时离子便在无场管道中飞向探测器。测量离子的飞行时间以鉴别其化学成分便构成了飞行时间质谱计。这是原子探针的基础。 仪器结构及特点早期的场离子显微镜曾用玻瑞制成超高真空系统(10一sPa)。现在已把场离子显徽镜和飞行时间质谱计联合在一起构成场离子显微镜原子探针(F IM一AP),用不锈钢制成可烘烤的超高真空系统。FIM一AP是直接观察表面原子排列图象并侧定单个原子的仪器。场离子显微镜原子探针(图2)包括真空系统、成象电压和高压脉冲电源、电子计时检测系统和计算机数据处理等。
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参考词条