1) Secondary ion emission
二次离子发射
1.
The study of the secondary ion emissions can give insight into the energy deposition and relaxation steps of the cluster-solid interaction.
就二次离子发射而言,这种非线性通常与团簇的能量、团簇的大小、离子的电荷态以及靶物质的结构有关。
2) secondary ion emission
次级离子发射
3) secondary electron emission
二次电子发射
1.
Characteristic of plasma sheath in the presence of secondary electron emission and negative ions
二次电子发射和负离子存在时的鞘层结构特性
2.
The minor aim is the determination of secondary electron emission property of such films needed for ensuring the quality of PDP(plasma display panel) to be made in China.
文中对形成的M gO薄膜的微结构、形貌等进行了分析,通过M gO薄膜二次电子发射系数γ值的测定,反馈M gO薄膜的性能,为提高PDP(p lasm a d isp lay panels)性能提供依据。
3.
Based on the secondary electron emission avalanche model the Monte Carlo method is chosen to simulate the 2-dimensional surface charge distributions on PMMA and alumina wafers with planar circular and rectangle symmetrical electrodes,respectively.
基于真空闪络的二次电子发射雪崩(SEEA)模型,针对片式有机玻璃PMMA和氧化铝陶瓷两种典型绝缘材料,利用蒙特卡罗法仿真研究了平面圆形及矩形对称电极系统中绝缘子表面电荷的二维分布。
4) secondary-emission
二次电子发射体
1.
The secondary-emission properties of the noble metals are better than the other pure metals.
介绍了微波放大管中利用贵金属材料制作冷阴极(二次电子发射体)的研究及使用情况。
5) secondary-emission ratio
二次电子发射比
补充资料：二次离子质谱仪
分子式：
CAS号：
性质：SIMS又称离子探针(ion probe)。利用一次离子束作为探针轰击试样，使试样物质表面产生二次离子，通过分析此二次离子以达到对试样分析的仪器。二次离子质谱仪可进行表面和界面的薄层分析，了解试样的三维元素组成。仪器一般包括四部分(1)产生、加速和聚焦一次离子束的离子枪；(2)放置、移动样品，产生并加速二次离子的试样室；(3)使二次离子按质荷比分离的质量分析器；(4)检测显示系统。
CAS号：
性质：SIMS又称离子探针(ion probe)。利用一次离子束作为探针轰击试样，使试样物质表面产生二次离子，通过分析此二次离子以达到对试样分析的仪器。二次离子质谱仪可进行表面和界面的薄层分析，了解试样的三维元素组成。仪器一般包括四部分(1)产生、加速和聚焦一次离子束的离子枪；(2)放置、移动样品，产生并加速二次离子的试样室；(3)使二次离子按质荷比分离的质量分析器；(4)检测显示系统。
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条