2) plane visualization
平面可视化技术
1.
The plane visualization is a tool to visualize the 3-D features data which are unseen by an interpreter.
将平面可视化技术应用于德南断裂的精细识别取得了很好的效果 ,已识别出德南断裂是一个向西散开的断裂系 ,它从北到南由 1、 2、 3号北倾断层组成 ;1、 2号断层最终汇聚为一条 ,2号断层下降盘发育 3～ 4条反向补偿断层 ;3号断层是一个小型的断裂系 ,由 5～ 7个北倾断层组成 ,平面上亦向西散开 ;剖面上该断裂系主要反映为向上分开、向下汇聚的帚状断裂系 ;同时还发现了由 3号断裂系控制的断块群。
3) plane technique
平面技术
1.
plane technique and three-dimensional technique.
以空间理论为依据,分析了现代竞技武术套路技术体系的两大组成内容,即平面技术和立体技术。
4) silicon plane technique
硅平面技术
5) uniplanar technology
单平面技术
6) silicon planar technique
规平面技术
补充资料：长度计量技术：平面度测量
长度计量技术中对平面度误差的测量。平面是由直线组成的﹐因此直线度测量中直尺法﹑光学準直法﹑光学自準直法﹑重力法等也适用於测量平面度误差。测量平面度时﹐先测出若干截面的直线度﹐再把各测点的量值按平面度公差带定义(见形位公差)利用图解法或计算法进行数据处理即可得出平面度误差。也有利用光波干涉法和平板涂色法测量平面误差的。光波干涉法常利用平晶进行﹐图 用平晶测量平面得到的干涉条纹 
为测量所得的不同干涉条纹。图中a 用平晶测量平面得到的干涉条纹 的干涉条纹是直的﹐而且间距相等﹐只在周边上稍有弯曲。这说明被检验表面是平的﹐但与光学平晶不平行﹐而且在圆周部分有微小的偏差。图中b 用平晶测量平面得到的干涉条纹 的干涉条纹弯曲而且间隔不相等﹐表明被检验表面是球形的﹐平晶有微小倾斜。条纹弯曲度约为条纹间距的1.5倍﹐表示平面度误差为1.5×0.3μm=0.45μm。图中c 用平晶测量平面得到的干涉条纹 的干涉条纹呈圆形﹐同样表明被检验表面是球形表面。将条纹数目乘以所用光束波长的一半﹐即得所求的平面误差为1.5×0.3μm=0.45μm。图中d 用平晶测量平面得到的干涉条纹 的干涉条纹成椭圆形排列﹐说明被检验表面是桶形的。可以把干涉图案作为被检验表面的等高线﹐因此可以画出该表面的形状。这种方法仅适宜测量高光洁表面﹐测量面积也较小﹐但测量精确度很高。
为测量所得的不同干涉条纹。图中a 用平晶测量平面得到的干涉条纹 的干涉条纹是直的﹐而且间距相等﹐只在周边上稍有弯曲。这说明被检验表面是平的﹐但与光学平晶不平行﹐而且在圆周部分有微小的偏差。图中b 用平晶测量平面得到的干涉条纹 的干涉条纹弯曲而且间隔不相等﹐表明被检验表面是球形的﹐平晶有微小倾斜。条纹弯曲度约为条纹间距的1.5倍﹐表示平面度误差为1.5×0.3μm=0.45μm。图中c 用平晶测量平面得到的干涉条纹 的干涉条纹呈圆形﹐同样表明被检验表面是球形表面。将条纹数目乘以所用光束波长的一半﹐即得所求的平面误差为1.5×0.3μm=0.45μm。图中d 用平晶测量平面得到的干涉条纹 的干涉条纹成椭圆形排列﹐说明被检验表面是桶形的。可以把干涉图案作为被检验表面的等高线﹐因此可以画出该表面的形状。这种方法仅适宜测量高光洁表面﹐测量面积也较小﹐但测量精确度很高。
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条