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1)  current regulator tube scanning circuit
恒流管扫描电路
1.
Through introduction of improved cofficient and time error that is observed simultaneously the author makes an inductive reasoning of two similar formularies,which can be applied to current regulator tube scanning circuit.
引入了恒流管扫描电路在同一时刻的改进系数和时间误差 ,归纳了两个近似公式 ,对几种恒流管扫描电路的性能作了深入一步的研究 ,并且简化了对该电路的计
2)  scanning circuit
扫描电路
1.
The cluster of non-linearity coefficient ε curves of scanning circuit;
扫描电路的非线性系数ε曲线簇
2.
This paper discussed the relationship among the relative amplitude error of scanning circuit and the power utilization factor,the jumping change and leaping change time,and the relative time error;and also pointed out the relative amplitude error of scanning circuit is a factor(-1 to 1),which has its limit value in practice,and is smaller than the relative time error.
论述了扫描电路的相对幅差与电源利用系数、跳变或跃变时间和相对时差等的关系,并说明相对幅差是一个比相对时差还小的、在-1到1之间变化的系数,而且实际应用中有它的极限值。
3)  sweep circuit
扫描电路
1.
And the use of its sweep circuit is expounded.
引入了时差概念 ,分析了一种数控精密压控振荡器的性能及时间误差 ,并阐明了其扫描电路的用途 。
4)  Scan circuit
扫描电路
1.
In view of the dissatisfactory linearity of the output voltage of the integrating long cycle scan circuit of the ordinary operational amplifier based on the charge and discharge of capacitor, a design of digital scan circuit based on counter and D/A translator is given.
本文鉴于常用的基于电容充放电的运算放大器积分式长周期扫描电路输出电压线性差 ,设计了基于计数器和D/A转换的数字式线性功率扫描电
5)  current ramp
电流扫描
1.
Voltage ramps (V-ramp) and current ramps (J-ramp) are used to evaluate gate oxide reliability.
18μm CMOS工艺栅氧的可靠性,获得击穿电压和击穿电量的两个常用方法是电压扫描法和电流扫描法。
6)  sweep current
扫描电流
补充资料:晶体管-晶体管逻辑电路
晶体管-晶体管逻辑电路
transistor-transistor logic
    集成电路输入级和输出级全采用晶体管组成的单元门电路。简称TTL电路。它是将二极管-晶体管逻辑电路(DTL)中的二极管,改为使用多发射极晶体管而构成。TTL电路于1962年研制成功,基本门电路的结构和元件参数,经历了3次大的改进。同DTL电路相比,TTL电路速度显著提高,功耗大为降低。仅第一代TTL电路产品,就使开关速度比DTL电路提高5~10倍。采用肖特基二极管的第三代TTL电路,开关时间可缩短到3~5纳秒。绝大部分双极型集成电路,都是TTL电路产品。
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参考词条