1) wedge interference
劈尖干涉
1.
Study of laser wavelength determining device based on wedge interference
一种基于劈尖干涉的激光波长测量装置的研究
2.
Laser wavelength measurement system based on optical wedge interference
基于光学劈尖干涉的激光波长测量系统研究
3.
When using wedge interference equipment to measure a filament diameter,we usually measure the distance L between the filament and intersection.
劈尖干涉测量细丝直径,通常涉及到测量交线至细丝的距离L。
2) splitter interference
劈尖干涉
1.
Improved measure method using splitter interference is put forward.
分析了用光杠杆法测量金属线膨胀系数α实验中存在的主要问题,提出采用劈尖干涉法改进的测量方法。
3) spires
[英][spaiə] [美][spaɪr]
尖劈
1.
Discussion on the simulation of atmospheric boundary layer with spires and roughness elements in wind tunnels;
关于风洞中用尖劈和粗糙元模拟大气边界层的讨论
4) Wedge
[英][wedʒ] [美][wɛdʒ]
劈尖
1.
The Resarch Experiment for Measuring the Diamefer Offilament by Wedge;
利用劈尖干涉测定细丝直径的实验研究
2.
For wedge experiment, using the concept of coherent length, we obtain the condition for emerging interference fringe obviously.
从相干长度的角度,回答了劈尖干涉条纹出现的条件。
3.
The ways of measuring the liquid refractive index are discussed through the width of interfered stripe by using experimental set of wedge interference.
提出了用劈尖干涉实验装置,通过测量干涉条纹的宽度来测量液体折射率的方法。
5) wedge film
劈尖
1.
Without changing the angle of the wedge film,the width of the interference fringe is measured when the wedge film is filled with some kind of liquids and air respectively.
采用劈尖实验装置在不改变劈尖膜条件下,同时测得空气膜和液体膜的干涉条纹宽度,并进一步计算出实验结果,从而得到一种方便求出液体折射率的新方法。
2.
In studying the interference of equal thickness in wedge films, the formula of difference of optical path is strictly deduced, and the tenable conditions of the optical path difference equation in traditional textbook is clarified.
研究了劈尖等厚干涉问题,对其光程差公式进行了严格推导,阐明了传统教材光程差公式成立的条件。
3.
The refractive index of liquids is obtained by means of the wedge film interference in the experiment of the interference of equal thickness.
在等厚干涉的实验中,加入了用劈尖干涉对比法测液体折射率的内容,在不改变劈尖膜的条件下,同时测得空气膜和液体膜的干涉条纹宽度,从而可方便地求出液体的折射率,也使得等厚干涉的实验内容更加丰富和充实。
6) interference/spiral drill point
干涉/螺旋面钻尖
补充资料：X射线干涉术
利用 X射线相继通过多块布喇格衍射晶体后产生的干涉现象来研究晶体缺陷和测定晶体基本参量的一种高精度技术。1965年第一台X射线干涉仪的出现，开辟了X 射线光学的新领域。
常用的X射线干涉仪可分为两类。
三晶干涉仪 1965年U.邦泽和M.哈特研制成功透射型X射线干涉仪。随后，X射线干涉技术和理论得到迅速发展，先后出现了反射型(1966)和混合型(1968)等多种类型的干涉仪,其光学原理及衍射束强度分布均由X射线衍射动力学平面波理论及球面波理论得到解释。图1是最常用的LLL型干涉仪示意图。分束器S、镜面 M和分析器A三者同在一块完整晶体上加工而成。当X射线入射到S，从衍射动力学理论可知，对于"厚"晶体，μt＞10,μ和t分别为晶体的吸收系数和厚度，只有布洛赫波的波节与散射原子平面重合的一支偏振波能通过晶体,其透射波离开S时分成相干的直射束和衍射束。镜面 M的作用是使两束分离的相干X射线重合，在分析器A前面产生驻波干涉条纹。分析器 A的作用是把原子尺度的驻波干涉条纹放大为宏观尺度的X射线叠栅条纹。如果S、M、A晶片严格相同并严格对准，那么在垂直于直射束或衍射束的观察面上只看到均匀的X射线强度分布,但若干涉仪内某一组元点阵参量或取向发生微小变化，都会使叠栅条纹产生相应的变化。叠栅条纹垂直于两倒易矢量之差，其间距与两倒易矢量之差的绝对值成正比。
二晶干涉仪 如果干涉仪的两块晶片由同一块晶体加工而成，当两组元同时满足布喇格定律，并且，它们之间存在点阵参量或取向的微小差别，即会产生叠栅条纹。1951年，有人首先在电子显微镜上观察到此现象。1965年日本的千川纯一观察到X射线的这种现象。图2是二晶干涉仪的几何示意图。X射线通过分束器S,相干的直射束和衍射束在出射面附近部分重叠，产生驻波干涉。通过分析器A观察到放大的X射线叠栅条纹。
应用 X射线干涉术是一种高精度的检测技术,在晶体缺陷研究方面，可用来观察缺陷所引起的微小点阵参量失配(精确度达Δd/d＝10-8)，晶体点阵中的微小角偏转（精度达10-8弧度）,精确测定位错的伯格斯失量以及用作X射线相差显微镜；在晶体学基本参量测量方面,用来精确测定 X射线折射率、晶胞参量以及晶体结构因子等基本参量；在计量学方面,可与光学干涉仪配合用作X射线波长的精确测定以及测定晶体材料的阿伏伽德罗常数，这是探索建立质量自然基准中很有希望的一种方案。
参考书目
L.V.Azaroff,et al.,X-Ray DiffRaction,McGraw-Hill,Inc., New York, 1974.
Z.G.Pinsker,Dynamical Scattering of X-Rays in Crystals, Springer-Verlag, Berlin,Heidelberg,1978.
常用的X射线干涉仪可分为两类。
三晶干涉仪 1965年U.邦泽和M.哈特研制成功透射型X射线干涉仪。随后，X射线干涉技术和理论得到迅速发展，先后出现了反射型(1966)和混合型(1968)等多种类型的干涉仪,其光学原理及衍射束强度分布均由X射线衍射动力学平面波理论及球面波理论得到解释。图1是最常用的LLL型干涉仪示意图。分束器S、镜面 M和分析器A三者同在一块完整晶体上加工而成。当X射线入射到S，从衍射动力学理论可知，对于"厚"晶体，μt＞10,μ和t分别为晶体的吸收系数和厚度，只有布洛赫波的波节与散射原子平面重合的一支偏振波能通过晶体,其透射波离开S时分成相干的直射束和衍射束。镜面 M的作用是使两束分离的相干X射线重合，在分析器A前面产生驻波干涉条纹。分析器 A的作用是把原子尺度的驻波干涉条纹放大为宏观尺度的X射线叠栅条纹。如果S、M、A晶片严格相同并严格对准，那么在垂直于直射束或衍射束的观察面上只看到均匀的X射线强度分布,但若干涉仪内某一组元点阵参量或取向发生微小变化，都会使叠栅条纹产生相应的变化。叠栅条纹垂直于两倒易矢量之差，其间距与两倒易矢量之差的绝对值成正比。
二晶干涉仪 如果干涉仪的两块晶片由同一块晶体加工而成，当两组元同时满足布喇格定律，并且，它们之间存在点阵参量或取向的微小差别，即会产生叠栅条纹。1951年，有人首先在电子显微镜上观察到此现象。1965年日本的千川纯一观察到X射线的这种现象。图2是二晶干涉仪的几何示意图。X射线通过分束器S,相干的直射束和衍射束在出射面附近部分重叠，产生驻波干涉。通过分析器A观察到放大的X射线叠栅条纹。
应用 X射线干涉术是一种高精度的检测技术,在晶体缺陷研究方面，可用来观察缺陷所引起的微小点阵参量失配(精确度达Δd/d＝10-8)，晶体点阵中的微小角偏转（精度达10-8弧度）,精确测定位错的伯格斯失量以及用作X射线相差显微镜；在晶体学基本参量测量方面,用来精确测定 X射线折射率、晶胞参量以及晶体结构因子等基本参量；在计量学方面,可与光学干涉仪配合用作X射线波长的精确测定以及测定晶体材料的阿伏伽德罗常数，这是探索建立质量自然基准中很有希望的一种方案。
参考书目
L.V.Azaroff,et al.,X-Ray DiffRaction,McGraw-Hill,Inc., New York, 1974.
Z.G.Pinsker,Dynamical Scattering of X-Rays in Crystals, Springer-Verlag, Berlin,Heidelberg,1978.
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
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