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1)  design and verification of IC
集成电路设计与验证
2)  Principles & Design of Integrate Circuit
集成电路原理与设计
3)  integrated circuit design
集成电路设计
4)  IC design
集成电路设计
1.
Through researching and analyzing on IC design practical teaching in Beijing University of Technology,we know that the platform of practicing teaching of IC design should has the characteristics,such as general system,practicing project and advanced facility.
通过对北京工业大学集成电路设计实践教学定位的分析和研究,得出集成电路设计实践教学平台应兼具系统全面性、工程实践性和工具先进性等特点。
2.
Based on the analysis of the resident IDcards application, this paper carefully studies the key issuesof the second generation resident ID cards specific IC designand discusses the key technology to be solved during thedevelopment of the IC chip.
本文通过对居民身份证应用需求的分析,研究第二代居民身份证集成电路设计中的有关问题,并针对相关问题提出了第二代居民身份证集成电路设计需解决的关键问题。
3.
The basic ESD protection theory in IC design, the normal protection structure and the advantage or disadvantage are introduced.
介绍了集成电路设计中ESD保护的基本原理和几种常用的保护方法并比较其优劣。
5)  VLSI
集成电路设计
6)  VLSI design
集成电路设计
1.
In this thesis, VLSI design optimization technology, power analysis attacks and countermeasures on RSA cipher are studied.
本文对RSA密码算法的集成电路优化实现技术、功耗分析攻击与防护方法、抗功耗分析攻击的集成电路设计进行了研究,提出了RSA算法集成电路设计及功耗分析攻击与防护的几种新方法,给出了理论推导、实验过程和结果,并进行了分析。
2.
In this thesis, VLSI design optimization technology, analysis attacks and countermeasures on SMS4 cipher are studied.
本文对SMS4密码算法的集成电路优化实现技术、功耗分析攻击与防护方法、抗功耗分析攻击的集成电路设计以及差分故障攻击防护方法进行了研究,提出了SMS4算法集成电路设计和功耗分析防护以及差分故障攻击防护的几种新方法,给出了理论推导、实验过程和结果,并进行了分析。
补充资料:集成电路版图设计规则
      集成电路版图设计规则的作用是保证电路性能,易于在工艺中实现,并能取得较高的成品率。版图设计规则通常包括两个主要方面:①规定图形和图形间距的最小容许尺寸;②规定各分版间的最大允许套刻偏差。
  
  集成电路制作中,各类集成元件、器件及其间的隔离与互连等是在一套掩模版的控制下形成的。一套掩模版通常包括 4~10块分版。每一块分版是一组专门设计的图形的集合,整套版中的各分版相互都要能精密地配合和对准。整套掩模版图形(简称版图)的设计,是把电路的元件、器件和互连线图形化,用它来控制制备工艺,使集成电路获得预期的性能、功能和效果。例如,增强型负载硅栅N沟道MOS型集成电路需要4块分版,分别用以确定有源区、多晶硅、接触孔和铝连线。4组图形的规则是:
    有源区条宽与间距
  
  
  
   6μm/6μm
    多晶硅条宽与间距
  
  
  
   8μm/6μm
    接触孔尺寸
  
  
  
  
    6μm×6μm
    铝连线条宽与间距
  
  
  
   6μm/6μm
    多晶硅-有源区套刻量(ɑ)
  
    2μm
    多晶硅出头长度(b)
  
  
  
  4μm
    接触孔-有源区套刻量(c)
  
    2μm
    接触孔-有源区上多晶硅套刻量(d)  4μm
    接触孔-隔离区上多晶硅套刻量(e)  2μm
    铝连线-接触孔套刻量(f)
  
    2μm
  
  
  不同类型的集成电路所需要的分版数不同,具体的版图设计规则也有差异。但制定版图设计规则的基本原则则是一致的:①需要考虑工艺设备状况(如光刻机的分辨率和对准精度)和工艺技术水平(如工艺加工中,图形尺寸侧向变化量和控制);②避免寄生效应对集成电路的功能与电学性能的有害影响。
  
  通常称允许的最小图形尺寸的平均值为特征尺寸。它是对集成电路集成密度的度量,是集成电路工艺技术水平的一种标志。
  

说明:补充资料仅用于学习参考,请勿用于其它任何用途。
参考词条