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1)  SESPI
错位电子散斑干涉仪
1.
This technic has been used in the instrument of IC wafer Stress Analyzer and Shear Electronic Speckle Pattern Interferometry(SESPI).
最后将错位相移器应用于集成电路硅片薄膜应力分布测试仪及错位电子散斑干涉仪之中。
2)  Shearography
错位散斑干涉
例句>>
3)  Speckle shearing interferometry
散斑错位干涉
4)  Speckle-shearing interferometry
散斑错位干涉术
5)  speckle-shearing interferometry
错位散斑干涉法
6)  electric speckle shearography pattern interferometry
剪切电子散斑干涉仪
补充资料：单光束散斑干涉法
    　　见散斑干涉法。
　　

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参考词条