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1)  epitaxial silicon
外延硅
2)  silicon epilayer
硅外延层
1.
Sub-micron silicon epilayer deposited by a novel Ultrahigh Vacuum Chemical Deposition System and fabrication of high frequency device;
UHV/CVD生长亚微米薄硅外延层及其高频器件研制
3)  Si epitaxy
硅外延
1.
By spreading resistance profile technology,Si epitaxy thickness value was obtained through measuring the changing of depth resistivity.
实际外延片测试过程中,经常发生扩展电阻测试仪测量硅外延片厚度误差较大的问题,从三个方面分析了产生的原因,其中两方面存在于样品制备过程:样品研磨角度不等于垫块角度造成的误差;研磨斜面两条边缘不平行造成的误差。
4)  silicon epitaxy
硅外延
5)  Source/Drain Recessed Etch
锗硅外延
6)  SiGe epilayer
硅锗外延层
补充资料:绝缘体上外延硅


绝缘体上外延硅
silicon on insulator

绝缘体上外延硅Sixieon。n insulator在绝缘衬底上制备半导体薄膜的生长技术。简称501。早期发展的绝缘衬底是蓝宝石。由于蓝宝石上外延硅存在衬底的自掺杂、载流子迁移率低、衬底和外延层界面应力大和衬底价格昂贵等缺点,得不到广泛应用。 501是在硅单晶衬底上形成5102绝缘层作衬底,并在绝缘层上进行硅外延增加厚度,用腐蚀法在该衬底上形成隔离硅岛后加工成电路。 较典型的501技术包括以下3种。①区熔再结晶技术。1979年由美国林肯实验室开拓。可采用激光或石墨加热器,近年又发展电子束、卤素钨灯加热等。这项技术经历图形外延、侧向籽晶外延和区熔再结晶。②氧离子注入(S IMOX)。以离一子束向硅单晶片注入高剂量氧离子,退火后形成埋层5102,再进行硅外延。用于超大规模集成电路SIMOX的最佳条件是:加热至500℃以上,以150一200 keV能量进行高浓度氧离子注入,注入浓度1一 2x101犯m一3,注入后在大于1250℃高温下退火。衬底和器件质量取决于注入能量、束流和温度等。③隔离硅外延。近年由林肯实验室发展的。它克服了材料缺陷如突出物、圆片翘曲和表面粗糙,提高了501材料质量。 用501结构材料加工大规模集成电路可降低互补金属一氧化物一半导体(CMOS)器件衬底的寄生电容,提高开关速度,增强抗宇宙射线能力和增加集成度。已应用于CMOS随机存贮器、运算器等。但501技术至今尚未进入商品化。今后除寻求发展新技术外,必须努力提高原有各种技术的实用性,如更好地控制硅膜中的缺陷和杂质,提高工艺的可靠性,进一步降低成本等,使之早日实现商品化。 (莫金现)
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参考词条