1) microwave interferometer
微波干涉仪
1.
In this paper,wepresent a microwave interferometer which is used for the measurement of plasma electrondensity in EACVD.
本文介绍了用于测量 EACVD 中等离子体电子密度的微波干涉仪,给出了测量原理、干涉仪结构及测量结果。
2.
This paper briefly introduces the theory and design of the microwave interferometer.
将微波干涉仪系统用于测量弹道靶尾迹的电子密度,这对航天、国防等事业发展都有着重要的意义。
2) ultramicrowave interferometer
超微波干涉仪
3) maser interferometer
微波激射干涉仪
4) surface analyser(-yzer)
显微光波干涉仪
5) microwave interference
微波干涉
1.
Because of the high precision measuring character of microwave interference, we are able to measure the iron wire Young’s modulus as 1.
本文利用微波干涉可以比较精确的测量微小长度变化这一特点,在微波分光计上测量了铁丝的杨氏模量(E=1。
2.
In using microwave interference to test the high-speed moving objects parameters, the noise is the key to influence the precision of data processing.
在利用微波干涉进行高速运动目标参数测试过程中,噪声是影响测试数据处理精度的关键因素,文章通过分析微波干涉信号的基本特点,利用小波变换与精确时域处理相结合的方法,对运动目标干涉信号进行了处理,得到了平滑的测试曲线,提高了数据处理结果的精度。
3.
Based on the measuring principle of microwave interferometer,the elementary characteristics of microwave interference signals are analyzed and the methods based on wavelet trans- form are put forward to preprocess the signals,which can not only extract the microwave interference signals by t.
本文在介绍微波干涉测量技术的基础上,分析了微波干涉信号的基本特点,提出了利用小波变换等方法对干涉信号进行预处理,不仅可以有效地从原始信号中提取出由弹丸运动所产生的微波干涉信号,同时也提高了数据处理结果的精度。
6) frequency sweep microwave interferometer
扫频式微波干涉仪
1.
The technology renovation project "application of frequency sweep microwave interferometer method to the measurement of electron densities in the wake of hypervelocity projectiles" is the research work of this thesis.
“扫频式微波干涉仪系统”是某重大技改项目中的技术改造项目。
补充资料：波面干涉仪
用以检测光学元件的面形、光学镜头的波面像差以及光学材料均匀性等的一种精密仪器。其测量精度一般为λ/10～λ/100, λ为检测用光源的平均波长。常用的波面干涉仪为泰曼干涉仪和斐索干涉仪。
泰曼干涉仪由两个准直透镜、分束器、标准平板以及标准球面镜所组成。单色光经小孔、光源准直透镜后被分束器分解成参考光束和检测光束。二者分别由标准平面和检测系统自准返回后，再经分束器，通过观测准直透镜重合，形成等厚干涉条纹，如图1所示。根据条纹的形状来判断被测件的光学质量。
用泰曼干涉仪检测平板或棱镜的表面面形及其均匀性，和检测无限或有限共轭距镜头的波面像差，只需在检测光路中，用一标准的平面或球面反射镜，或再附加一负透镜组，以形成平面的自准检测光束即可，分别如图1a、图1b、图1c、图1d、图1e所示。
斐索干涉仪有平面的和球面的两种，前者由分束器、准直物镜和标准平面所组成，如图2b；后者由分束器、有限共轭距物镜和标准球面所组成，如图2b。单色光束在标准平面或标准球面上，部分反射为参考光束；部分透射并通过被测件的，为检测光束。检测光束自准返回，与参考光束重合，形成等厚干涉条纹。
用斐索平面干涉仪可以检测平板或棱镜的表面面形及其均匀性，如图2a、图2b、图2c所示。用斐索球面干涉仪可以检测球面面形和其曲率半径，后者的测量精度约 1??m；也可以检测无限、有限共轭距镜头的波面像差，如图2d所示。
除了上述两种常用的干涉仪外，还有横向、径向剪切干涉仪，这种干涉仪没有参考波面。横向剪切干涉仪把被测光束分解成两个相同的，但相互横移的相干光束。径向剪切干涉仪则是把被测光束分解成波面面形相似，但横截面大小不相同的两相干光束。干涉出现在两相干光束的重叠区域内。两者分别如图3、图4所示。该两种干涉仪有多种多样的形式，如平板式、棱镜式、透镜式、光栅式等。横向剪切干涉仪不能直接测得波面像差；径向剪切干涉仪系统误差稍大。虽然这两种干涉仪易于加工，但仍未能像泰曼干涉仪那样被广泛使用。
干涉图的分析，可用目视或照相，也可以在干涉仪上,配备光电探测器件和微处理机及终端系统,扫描、采样和分析干涉花样。称这种干涉仪为数字干涉仪。
泰曼干涉仪由两个准直透镜、分束器、标准平板以及标准球面镜所组成。单色光经小孔、光源准直透镜后被分束器分解成参考光束和检测光束。二者分别由标准平面和检测系统自准返回后，再经分束器，通过观测准直透镜重合，形成等厚干涉条纹，如图1所示。根据条纹的形状来判断被测件的光学质量。
用泰曼干涉仪检测平板或棱镜的表面面形及其均匀性，和检测无限或有限共轭距镜头的波面像差，只需在检测光路中，用一标准的平面或球面反射镜，或再附加一负透镜组，以形成平面的自准检测光束即可，分别如图1a、图1b、图1c、图1d、图1e所示。
斐索干涉仪有平面的和球面的两种，前者由分束器、准直物镜和标准平面所组成，如图2b；后者由分束器、有限共轭距物镜和标准球面所组成，如图2b。单色光束在标准平面或标准球面上，部分反射为参考光束；部分透射并通过被测件的，为检测光束。检测光束自准返回，与参考光束重合，形成等厚干涉条纹。
用斐索平面干涉仪可以检测平板或棱镜的表面面形及其均匀性，如图2a、图2b、图2c所示。用斐索球面干涉仪可以检测球面面形和其曲率半径，后者的测量精度约 1??m；也可以检测无限、有限共轭距镜头的波面像差，如图2d所示。
除了上述两种常用的干涉仪外，还有横向、径向剪切干涉仪，这种干涉仪没有参考波面。横向剪切干涉仪把被测光束分解成两个相同的，但相互横移的相干光束。径向剪切干涉仪则是把被测光束分解成波面面形相似，但横截面大小不相同的两相干光束。干涉出现在两相干光束的重叠区域内。两者分别如图3、图4所示。该两种干涉仪有多种多样的形式，如平板式、棱镜式、透镜式、光栅式等。横向剪切干涉仪不能直接测得波面像差；径向剪切干涉仪系统误差稍大。虽然这两种干涉仪易于加工，但仍未能像泰曼干涉仪那样被广泛使用。
干涉图的分析，可用目视或照相，也可以在干涉仪上,配备光电探测器件和微处理机及终端系统,扫描、采样和分析干涉花样。称这种干涉仪为数字干涉仪。
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条