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1)  Plane nonparallel film
平面非平行薄膜
2)  thin foils
平面薄膜
3)  thin silicon foil (target)
平面薄膜靶
4)  thin silicon foil
Si平面薄膜
1.
Boron impurity in thin silicon foils influences on the property of thin silicon foils.
以重掺杂自截止腐蚀工艺制备的厚度为 3~ 4μm的自支撑Si平面薄膜已在X光激光和惯性约束聚变分解实验中得到应用。
2.
The preparation process of thin silicon foil used to study the spatial nonuniformity in the laser driven intensity was introduced.
介绍以氧化、扩散、光刻等现代半导体技术结合化学腐蚀工艺实现对 Si片的定向自截止腐蚀 ,制备获得用于研究驱动光束不均匀性的自支撑 Si平面薄膜的工艺。
5)  thin film surface planeness
薄膜表面平整度
6)  wafer nonflatness
薄片的非平面度
补充资料:稀土-铁族金属非晶薄膜磁光材料
分子式:
CAS号:

性质:用稀土和铁族金属制成的薄膜磁光材料其组成、电和磁性能及单轴各向异性受沉积条件及靶材成分影响。非晶态霍耳电压(VH)与磁场关系和极向克尔磁带回线相似,在补偿温度(Tcomp)附近,霍尔系数R1改变符号,当T<Tcomp时,R1为负,相反为正。其制备方法为高频溅射、真空蒸发、磁控溅射等。

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