1) extended data domain
扩展数据域
3) data enlargement
数据扩展
1.
In this paper,we discuss the problem of consistence evoked by data enlargement.
概念格理论是数据分析有力工具,本文以概念格为工具,讨论数据扩展而引起的相容性问题。
2.
We discuss the problem of consistence arose from data enlargement in this paper.
以概念格为工具,讨论数据扩展引起的相容性问题。
4) extended metadata
扩展元数据
1.
After studying the present incremental update algorithm,a method of using two extended metadata current flag indicator and aggregation related indicator to simplify the update process is proposed,so the unnecessary correction of fact tab.
在对现有更新方法研究的基础上,提出一种利用扩展元数据中当前标志指示符和聚集相关指示符来简化更新过程的方法,避免了对事实表进行不必要的修改;同时针对不同的聚集函数提出了不同的处理方法,分析结果表明,提出的方法有效可行。
2.
In combination with HowNet,extended metadata semantic relevance algorithm for predicting the relativity between URL and top ic was applied.
该算法从语义的角度出发,结合“知网”,通过对扩展元数据进行主题相关性判定来选择、预测与主题相关的URL。
5) Extended Data Sources
扩展数据源
6) Metadata Extension
元数据扩展
1.
Metadata Extension and Management Research of Data-Sharing Network of Earth System Science;
首先,分析了地球系统科学的学科特点及其数据的特点,论证了共享网的开发和研究中地球系统科学数据元数据扩展的必要性;然后,提出了元数据扩展的基本方法和理论,概括了元数据扩展的抽象模型,以及元数据扩展应遵循的原则,实现了地球系统科学数据元。
补充资料：数据域测量
对数字系统逻辑特性进行的测量，主要用以对数字系统的故障进行侦查、定位或诊断。数据域测量是60年代末和70年代初发展起来的测量技术。
数字系统所处理的二进编码脉冲序列通常称为数据。集成化数字电路特点之一是内部电路复杂而外部可测点甚少，因而要求在一定的输入数据样式下，在有限输出点上测量输出数据样式，从而推断电路内部发生的事件。这就是所谓数据域测量，它同经典的时域测量与频域测量根本不同。另外,数字系统内部故障所引起的现象,往往要经过相当长时间（许多个机器操作周期）才能在输出上表现出来，而在某些情况下也可能不表现出来，用经典的时域或频域测量仪器（如示波器等）是无法测出的。因此，需要发展一套新的测量技术和测量仪器。
数字电路中，由于材料和工艺上的缺陷而引起电路的异常动作称为故障。故障是缺陷的逻辑表现。发现故障的存在称为故障侦查；确定故障发生的部位，称为故障定位；侦查和定位合称为诊断。对于复杂系统，完备的侦查或定位十分困难,理论分析和实际测量的对象,往往仅限于固定的永久性呆滞型故障，即当电路某一个或多个节点恒呆滞于0（记作s-a-0）或呆滞于1(s-a-1)的情况。例如，共射极连接的晶体管电路，当集电极或基极断路时，其集电极负载输出即形成 s-a-1故障（恒为高电平）；当集电极与发射极短路时,输出即形成s-a-0故障(恒为低电平)。在一个"与"门中，正常的真值表如图中a。当输入端x1有s-a-1时,其实际真值表将如图中b。□表示故障情况。若输入激励(x1=0,x2=1),或写成为矢量形式X=（0，1）,则由于x1的s-a-1，将使输出为y=1，而不是正常的y=0。于是,输入矢量X 就可以侦查出这个故障。图中c表示"与"门输出端y有 s-a-1的情况。有三个输入矢量X1=(0,1),X2=(0，0)，X3=(1,0)都能侦查这一故障。因此，多个输入矢量能侦查同一故障；而同一个输入矢量也可能侦查几种不同故障,例如X1=(0,1)既能侦查"与"门x1的s-a-1,也能侦查y的s-a-1。若单只用X1=(0，1)，则当测量到y=1时,这表明被测"与"门有故障,但不能断定x1或y有s-a-1，或二者均存在。换言之，X1=(0,1)只能作故障侦查，而不能定位。如果继之再输入一个矢量X2=(0，0),即可达到诊断的目的，如图中 d所示。测量过程所用的输入矢量序列（测试样式）X1,X2,...,Xn及其相应的无故障输出矢量序列（正常输出样式）Y1,Y2,...,Yn总称为一个测试,并记作T＝｛X1,X2,...,Xn;Y1,Y2，...,Yn｝。n称为测试的长度。图中d 的例子是一个长度为2的T,T=｛(0,1),(0，0)；(0)，(0)｝。
数据域测量的主要目的是寻求尽可能完备的、短的测试集，产生测试所需的测试样式，捕获并显示输出样式，从而完成故障的侦查或定位。
产生测试样式的仪器称为样式发生器，或数字发生器。用各种方式捕获并显示输出样式的仪器称为逻辑分析仪，或故障寻迹仪。还有一类利用数据压缩技术作不完备测量用的简易仪器，称为特征分析仪。
数字系统所处理的二进编码脉冲序列通常称为数据。集成化数字电路特点之一是内部电路复杂而外部可测点甚少，因而要求在一定的输入数据样式下，在有限输出点上测量输出数据样式，从而推断电路内部发生的事件。这就是所谓数据域测量，它同经典的时域测量与频域测量根本不同。另外,数字系统内部故障所引起的现象,往往要经过相当长时间（许多个机器操作周期）才能在输出上表现出来，而在某些情况下也可能不表现出来，用经典的时域或频域测量仪器（如示波器等）是无法测出的。因此，需要发展一套新的测量技术和测量仪器。
数字电路中，由于材料和工艺上的缺陷而引起电路的异常动作称为故障。故障是缺陷的逻辑表现。发现故障的存在称为故障侦查；确定故障发生的部位，称为故障定位；侦查和定位合称为诊断。对于复杂系统，完备的侦查或定位十分困难,理论分析和实际测量的对象,往往仅限于固定的永久性呆滞型故障，即当电路某一个或多个节点恒呆滞于0（记作s-a-0）或呆滞于1(s-a-1)的情况。例如，共射极连接的晶体管电路，当集电极或基极断路时，其集电极负载输出即形成 s-a-1故障（恒为高电平）；当集电极与发射极短路时,输出即形成s-a-0故障(恒为低电平)。在一个"与"门中，正常的真值表如图中a。当输入端x1有s-a-1时,其实际真值表将如图中b。□表示故障情况。若输入激励(x1=0,x2=1),或写成为矢量形式X=（0，1）,则由于x1的s-a-1，将使输出为y=1，而不是正常的y=0。于是,输入矢量X 就可以侦查出这个故障。图中c表示"与"门输出端y有 s-a-1的情况。有三个输入矢量X1=(0,1),X2=(0，0)，X3=(1,0)都能侦查这一故障。因此，多个输入矢量能侦查同一故障；而同一个输入矢量也可能侦查几种不同故障,例如X1=(0,1)既能侦查"与"门x1的s-a-1,也能侦查y的s-a-1。若单只用X1=(0，1)，则当测量到y=1时,这表明被测"与"门有故障,但不能断定x1或y有s-a-1，或二者均存在。换言之，X1=(0,1)只能作故障侦查，而不能定位。如果继之再输入一个矢量X2=(0，0),即可达到诊断的目的，如图中 d所示。测量过程所用的输入矢量序列（测试样式）X1,X2,...,Xn及其相应的无故障输出矢量序列（正常输出样式）Y1,Y2,...,Yn总称为一个测试,并记作T＝｛X1,X2,...,Xn;Y1,Y2，...,Yn｝。n称为测试的长度。图中d 的例子是一个长度为2的T,T=｛(0,1),(0，0)；(0)，(0)｝。
数据域测量的主要目的是寻求尽可能完备的、短的测试集，产生测试所需的测试样式，捕获并显示输出样式，从而完成故障的侦查或定位。
产生测试样式的仪器称为样式发生器，或数字发生器。用各种方式捕获并显示输出样式的仪器称为逻辑分析仪，或故障寻迹仪。还有一类利用数据压缩技术作不完备测量用的简易仪器，称为特征分析仪。
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条