1) characteristic fluorescent X-ray absorption spectroscopy
特征荧光X射线吸收谱
1.
By using the characteristic fluorescent X-ray absorption spectroscopy,a new strategy method was developed to measure the mass thickness of 235U fission target based on beryllium substrate accurately,and the metrical error was also analyzed.
研究发展了一种基于特征荧光X射线吸收谱的、可精确测量裂变物质质量厚度的方法,系统分析了测量不确定度。
2) X-ray fluorescence absorption
X射线荧光吸收
3) X-ray absorption spectroscopy
X射线吸收光谱
1.
Preparation and characteristics of X-ray filter in X-ray absorption spectroscopy techniques;
X射线吸收光谱技术中的滤光片研制
2.
Nanodiamond films synthesized by hot-filament chemical vapor deposition method and SiC nanoscale thin film deposited by pulsed laser deposition were investigated by X-ray absorption spectroscopy.
采用X射线吸收光谱研究了热丝化学气相沉积 (CVD)合成的纳米金刚石薄膜和脉冲激光沉积的纳米SiC薄膜。
4) X-ray fluorescence absorptionmeter
X射线荧光吸收计
5) X-ray fluorescence spectrometry
X射线荧光光谱
1.
Application of X-ray fluorescence spectrometry in determination of the elements' concentrations of midst-and-low alloy steel architecture materials;
X射线荧光光谱法在中、低合金钢类钢筋建材检测中的应用
2.
Determination of the mass thickness of zinc coating by X-ray fluorescence spectrometry;
X射线荧光光谱法测定Zn镀层质量厚度及计算谱线选择问题研究
6) XRF
X射线荧光光谱
1.
Determination of Major Elements in Converter Slag by XRF;
X射线荧光光谱法测定转炉渣主要成份
2.
Determination of Sulphur in Graphite Electrode Powder by XRF;
X射线荧光光谱法测定高纯石墨中的硫
3.
XRF Analysis of Blast - Furnace Slag;
长钢高炉渣的X射线荧光光谱分析
补充资料：扩展X射线吸收精细结构谱
物质(除单原子气体外)的 X射线吸收限的高能方向， 对应光电子能量 Ek约在30～1000电子伏范围内，X射线吸收系数的振荡结构称为扩展X射线吸收精细结构谱。其典型例子如图所示。图中光电子能量为0处相当于K吸收限位置。
在物质中，原子吸收X 射线产生光电子波，此光电子波又被邻近原子散射。出射波与散射波相干涉，因此光电子波的末态波函数发生变化，并使吸收过程中的跃迁几率发生变化，从而产生扩展X 射线吸收精细结构谱。
1931年R. del克朗尼格首先对扩展X射线K吸收精细结构谱用晶体的长程序理论进行了计算。以后他又提出了短程序理论。短程序理论经不断改进，到1970年E.A.斯特恩等应用短程序理论（单电子，单次散射近似）计算K吸收谱（也适用于L1吸收谱）,得到了较好的结果。
计算得到的扩展X 射线吸收精细结构谱为
式中m是电子的质量,啚=h/2π，h是普朗克常数,k是光电子波矢，Nj是第j层配位球壳上的原子数,Rj是吸收原子至第j层原子的平均径向距离，tj(2k)是第j层原子的背散射振幅，λ是电子的平均自由程,σ嵂是德拜-瓦勒因子，δj(k)是吸收原子与背散射原子的势能引起的相移。
应用以上结果，由实验测定的X(k)经傅里叶变换及有关计算可得到物质中每一类组成原子的径向结构函数，从而给出吸收原子与邻近原子间的距离、近邻原子数等结构数据。比较不同温度下的测量结果还可获得德拜-瓦勒因子。
近年来由于强辐射源的出现以及相应实验技术的改进，扩展X 射线吸收精细结构谱已经成为研究复杂晶体、非晶态、生物大分子，以及催化剂等材料结构等的较好方法。
近年发展起来的尚有表面扩展X射线吸收精细结构谱，电子能量损失谱等。其原理与X 射线吸收精细结构谱相类似。
参考书目
陈玉、王文采、嵇益民：《物理》,第13卷,第6期,第350页，1984。
陆坤权、赵雅琴、常龙存:《物理学报》,第33卷，第1693页，1984。
在物质中，原子吸收X 射线产生光电子波，此光电子波又被邻近原子散射。出射波与散射波相干涉，因此光电子波的末态波函数发生变化，并使吸收过程中的跃迁几率发生变化，从而产生扩展X 射线吸收精细结构谱。
1931年R. del克朗尼格首先对扩展X射线K吸收精细结构谱用晶体的长程序理论进行了计算。以后他又提出了短程序理论。短程序理论经不断改进，到1970年E.A.斯特恩等应用短程序理论（单电子，单次散射近似）计算K吸收谱（也适用于L1吸收谱）,得到了较好的结果。
计算得到的扩展X 射线吸收精细结构谱为
式中m是电子的质量,啚=h/2π，h是普朗克常数,k是光电子波矢，Nj是第j层配位球壳上的原子数,Rj是吸收原子至第j层原子的平均径向距离，tj(2k)是第j层原子的背散射振幅，λ是电子的平均自由程,σ嵂是德拜-瓦勒因子，δj(k)是吸收原子与背散射原子的势能引起的相移。
应用以上结果，由实验测定的X(k)经傅里叶变换及有关计算可得到物质中每一类组成原子的径向结构函数，从而给出吸收原子与邻近原子间的距离、近邻原子数等结构数据。比较不同温度下的测量结果还可获得德拜-瓦勒因子。
近年来由于强辐射源的出现以及相应实验技术的改进，扩展X 射线吸收精细结构谱已经成为研究复杂晶体、非晶态、生物大分子，以及催化剂等材料结构等的较好方法。
近年发展起来的尚有表面扩展X射线吸收精细结构谱，电子能量损失谱等。其原理与X 射线吸收精细结构谱相类似。
参考书目
陈玉、王文采、嵇益民：《物理》,第13卷,第6期,第350页，1984。
陆坤权、赵雅琴、常龙存:《物理学报》,第33卷，第1693页，1984。
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
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