1) Build-in testability
内建可测性
2) build-in testability design
内建可测性设计
3) BIR
内建可靠性
1.
The Build-In Reliability (BIR) System for Advanced Semiconductor Manufacturing;
现代半导体研制的内建可靠性方法
4) BIST
内建自测
1.
A Multi-frequency BIST IP Core with Scan Chain for Embedded Register File;
适用于嵌入式五口SRAM的多频率内建自测电路
2.
An approach for FPGA(Field Programmable Gate Array) testing logic cells based on BIST(Built-In Self-Test) is presented.
给出了一种基于内建自测(BIST)的测试现场可编程门阵列(FPGA)逻辑单元的方法,讨论了测试的配置结构、故障覆盖率和测试中出现的问题及解决办法。
3.
A reseeding BIST scheme with variable lengths of test sequences is proposed in this paper.
本文提出一种变长序列重复播种的内建自测试方案,该方案使用重复播种技术,每个种子所产生的伪随机测试向量的序列长度不同。
5) DBIST
确定性内建自测试
6) constructability
可建造性
1.
The paper analyzed the integration of constructability from the construction contractor for the construction design.
分析了工业建筑工程设计阶段对承包商可建造知识和经验的集成,指出在集成承包商环境下,工业建筑工程设计质量功能部署(QFD)应该考虑承包商对工程可建造性的需求,并由此对HOQ进行了重构,实现在以业主为代表的业主需求和承包商的可建造需求双重驱动下的工业建筑工程设计质量功能部署。
2.
Constructability,capability of maintenance and adaptability are three main factors of sustainable large infrastructures.
城市大型基础设施的可持续性应当具备可建造性、可维护性和可适应性三个因子。
补充资料:连续性与非连续性(见间断性与不间断性)
连续性与非连续性(见间断性与不间断性)
continuity and discontinuity
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说明:补充资料仅用于学习参考,请勿用于其它任何用途。
参考词条