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1)  Digital Fringe Pattern Profilometry
数字条纹形貌测量
2)  Fringe Pattern Profilometry
条纹形貌测量
1.
Research on Digital Projection Based Three-dimensional Fringe Pattern Profilometry Technique;
基于数字投影的三维条纹形貌测量技术研究
3)  3-D digital measurement
形貌数字化测量
4)  Topography measurement
形貌测量
1.
Digital holography is a technology that has characteristics of simple and convenient measurement, non-contact, high resolution in topography measurement of 3D object’s surface, and has a wide perspective in application.
数字全息技术用于物体表面三维形貌测量具有测量简便、快捷、无接触、高分辨率的特点,有着广阔的应用前景。
5)  profile measurement
形貌测量
1.
The latest development of optical non-contact 3D profile measurement;
光学非接触三维形貌测量技术新进展
2.
Application of generalized B spline filter to surface profile measurement;
广义B样条滤波器在表面形貌测量中的应用
3.
The 3D profile measurement technology has widely application and promising future in fields of industrial online inspection, robotic vision, biomedicine etc.
物体的三维形貌测量在工业检测、机器视觉、医学等众多领域有着广泛的应用。
6)  Shape measurement
形貌测量
1.
Analysis of the shape measurement by carrier modulation in electronic speckle pattern interferometry
电子散斑干涉载频调制形貌测量方法的分析
2.
A shape measurement based on electronic speckle pattern interferometry(ESPI)by carrier modulation is presented.
用摄像机采集该载波条纹图,利用傅里叶变换法可解调出物体高度的位相信息,从而实现物体的形貌测量。
3.
A method of shape measurement based on ESPI carrierfrequency modulation is presented.
用CCD采集该载波条纹图,利用傅里叶变换法可解调出物体高度的位相信息,从而实现物体的形貌测量。
补充资料:模拟测量与数字测量
      宏观物理量本质上大都是固定或连续变化的模拟量。迄今为止的测量仪器的示值都模拟着被测量的变化。由于仪器本身的局限性,示值的分辨力只能达到2~3位有效数字,而且模拟式信号(测量数据)在测量过程中易受噪声和干?诺挠跋於渲怠K孀攀旨际醯姆⒄梗饬恳瞧魅战ナ只K贡徊獾哪D饬客ü#浠怀晌至浚倮檬旨际鹾图扑慊删屠刺岣卟饬康木范取⒖煽啃浴⒘榛钚院妥远潭取J质揭瞧饔檬胂允窘峁潦奖悖灰锥链恚局捣直媪纱?6、7位(电压表)乃至 9、10位(频率计数器)有效数字。而且数字信号(测量数据)采用高-低两个电平编码信号,不易受干扰而出错。
  
  数字量是离散量,以一定的跨步(量子值)跃变。每个数字量是一系列阶跃跨步的总和,通常用n比特二进制编码来表示。量化即模-数变换的结果(图中粗线)只能在一些个别点全同于模拟量(细线)。二者之间不可避免的差异,称为量化误差或量化噪声。二进编码时,分辨率(一个量子)为1/(2n-1),8比特的分辨率为±2×10-3,16比特的为±8×10-6,24比特的为±3×10-8。测量的动态范围为n×6.02分贝。
  
  
  量化过程需要一定时间τ,即模-数变换器的总采样时间。τ值正比于比特数n,反比于时钟(采样节拍)频率。显然,τ应与被测之量v的变化速率(dv/dt)相适应。测量误差为墹v=(墹v/墹t)τ。对于正弦变化量vsinωt,最大误差将为墹v=vωτ或墹v/v=ωτ。把1千赫正弦信号量化到10比特,若要求墹v/v与数字分辨率(1×10-3)相当,则要求τ≤160纳秒。测量速度与精确度之间存在矛盾,精确度要求越高,则总采样时间越长。
  
  为了提高效率,可用较低的重复频率fs<<1/τ来进行采样,并在相继二次采样之间用保持电路来保持采得的值。若要从采样结果复现原来的信号,根据采样定理至少要求fs>2fn,这里fn是信号中所含的最高傅氏频率分量,这样复现的信号将无失真。然而,由于噪声的影响,而且需要滤除采样频率fs,实际上要求fs>5fn。采样保持电路的作用犹如一个低通滤波器,其截频为fs/2,并会产生一个相位延迟,其值为1/(2fs)。模-数变换在高速、高频方面受到限制。
  
  模-数变换的逆过程就是数-模变换,即从数字式编码信号变换为对应的模拟式信号。当被变换的信号变化时,所得模拟信号呈现出量化阶梯。用低通滤波器滤除阶跃所产生的谐波,即得到平滑的模拟信号。若模拟信号中低频傅氏分量的谐波低于高频傅氏分量,则谐波的滤除显然有困难。
  
  除了可以用数-模变换电路作反馈来构成模-数变换器之外,在测量仪器和系统中,数-模变换器常用以产生模拟信号来驱动模拟式终端设备(例如X-Y绘图仪和示波器等)和用于任意波形信号发生器。
  

说明:补充资料仅用于学习参考,请勿用于其它任何用途。
参考词条