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1)  γ_w~-ER-critical
弱控制去边负临界图
2)  γ-w-ER-critical
弱控制参数的去边负临界图
3)  γ_w-ER-critical
弱控制的去边临界图
4)  γ_w~+-ER-critical
弱控制去边正临界图
5)  γ+w-ER-critical
弱控制参数的去边正临界图
1.
This paper investigated γ+w-ER-critical graphs and γ-w-ER-critical graphs,and gave out sufficient and necessary condition for two-degree graphs to be γ+w-ER-critical and γ-w-ER-critical,respectively.
本文主要研究图的弱控制参数的去边正临界图(γw+-ER-critical)和去边负临界图(γw--ER-critical),并分别给出了二次图为去边正临界图和去边负临界图的充要条件。
6)  domination-edge-critical graph
控制-边-临界图
补充资料:不合格品率控制图(p图)


不合格品率控制图(p图)
control charts for fraction defective

  buhsgePinIO kongzhitu不合格品率控制图《p图)(cootrol chaztsfor俪ction de公兑tive)利用样本的一定类型的不合格品率(川,评估和监察过程的控制图,也是计数型控制图中最常用的控制图。计数数据往往能够快速而较便宜地取得,一般也不需要特别的收集技巧。计数型控制图的参数均值(产)与标准差(的是互相关的:例如,样本不合格品率(川的均值巧=p,标准差丐二石可下不下石,式中尸为过程或总体的平均不合格品率,。为样本大小。确定产,、凡中的一个就等于确定另一个,故只有一个独立的参数,即总体平均不合格品率p,因此,控制不合格品率(p)仅一张控制图就足够了。p图用于控制对象为不合格品率或合格品率等计件值的场合。常见的不良率有不合格品率、废品率、交货延迟率、缺勤率、差错率等。 p图的控制界限也是从休哈特控制图控制界限的总公式,即休哈特的3。方式导出的,具体如下:UCL二P+3_户,。丫六,一户,。CL二PoPLCL二P一3了P(l一P)/n了P(l一P)In。户一3丫户(:一户)/n式中:UCL为上控制限,比L为下控制线,CL为中心线,笋为总体平均不合格品率p的估计值,通常久。所有不合格品数厂“厂二一班看释魂礴「一 由于在p图的上下控制界限uCL、优L公式中含有样本大小n,故当n变化时,p图的上下控制界限呈凹凸状,不但作图难,而且更重要的是在p图上难于判断异常,也难于判断稳定。这时采用通用拉制图,可以克服上述困难。下页左图是一个实例的p图与不合格品数通用控制图(pn;图)的对比。(孙静)
  
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