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1)  test generation algorithm
测试产生算法
2)  testing,algorithmic pattern-genera-tion
算法图形产生测试法
3)  generate and test method
产生测试法
4)  random test generation
随机测试产生法
5)  test generation algorithm
测试生成算法
1.
A combinational circuits test generation algorithm based three-valued neural networks is proposed in this paper.
针对集成电路的规模和复杂度不断增加而相应的测试却越来越困难问题,提出了一种基于三值神经网络的组合电路测试生成算法,该算法不需要传播,也不需要回退,而是利用三值神经网络把组合电路表示成双向的神经网络,并构造网络的能量函数,用遗传算法求解能量函数的最小值点来求得测试矢量,这样就把组合电路的测试生成问题转化为数学问题,在一些基准电路上的实验结果表明,本算法具有较高的故障覆盖率和较短的测试时间。
2.
The traditional test generation algorithm is inefficient for the VLSI circuits.
对于复杂的大规模集成电路,传统的测试生成算法已不再适用,因此研究新型有效的数字集成电路测试生成算法具有十分重要的理论价值和实际意义。
6)  production test
生产测试
1.
By means of the basic principles of measurement system,the difference of test object and environment between prototype test and production test is compared .
根据测试系统构成的一般原则,研究了导弹的生产测试和样机测试两者在测试目的和环境方面的差别,提出了导弹总体测试工程化设计的基本原则,并根据数字制导导弹的特殊性,提出了对导弹生产测试系统的几点特殊要求。
补充资料:测试结果可接受性的检查和最终测试结果的确定


测试结果可接受性的检查和最终测试结果的确定
check of the acceptability of test results and determination of the final test result

  C凡(3)二3.3d,时,取此3个结果的平均值作为最终侧试结果;否则取它们的中位数作为最终测试结果。。,为重复性标准差(即在重复性条件下所得侧试结果的标准差)。 在口田T 11792一1989中还对重复性和再现性条件下所得侧试结果可接受性的检查方法和最终测试结果的确定做了详细讨论和规定。(马毅林)ceshi 11叩uo kejieshCxjxing d6 iiancha he zuizhong ceshi】i闪旧de que心ing测试结果可接受性的检查和最终测试结果的确定(checkof山eac,ptability of test,ults助ddsterminationofthefi耐testresult)在商品检验中进行一次测试的情形不多见,当得到一个测试结果时,所得结果不可能直接与给定的重复性标准差作可接受性的检查。对测试结果的准确性有任何疑问时都应再进行一次测试。所以,对两个测试结果进行可接受性的检查是一般的情况。 可接受性的检查,实际上是一种统计检验。任何两个测试结果只要能通过可接受性的统计检验即可认为是一致的,均可接受。比如,在重复性条件下,所得结果之差的绝对值(下称绝对差)不超过相应的重复性限r(见重复性和再现性)的值,则认为两个结果是一致的,均可接受;如果两个侧试结果的绝对差超过r,则认为它们是不一致的,必须增加测试。 按国家标准《测试方法的精密度在重复性或再现性条件下所得测试结果可接受性的检查和最终测试结果的确定》(GBIT 1 1792一1989),在重复性条件下,如果两个测试结果的绝对差不超过r的值,可取两个侧试结果的平均值作为最终测试结果。如果两个结果的绝对差超过r的值,并且测试费用较低,须再做两次测试。当4个结果的极差(即其中的最大值与最小值之差)不超过相应的临界极差c,瓜(4)二3.6a,时,取4个结果的平均值作为最终测试结果。如果两个结果的绝对差超过r的值,并且测试费用较高时,只须再作一次测试。当3个结果的极差不超过相应的临界极差
  
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参考词条