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1)  process fault
过程故障
1.
After analyzing the mathematical models of all kinds of faults, this paper proposes an isolation method based on structured residuals, which can isolate sensor/actuator faults and process faults.
本文通过分析各类故障的数学模型,提出一种基于结构化残差和故障映射向量的隔离方法,并推导出PCA模型下过程故障映射向量方向的提取算法,进而实现了传感器/执行器故障和过程故障的故障隔离,在CSTR仿真上的研究进一步验证了该法的有效性。
2)  fault process
故障过程
1.
A fault trend prediction problem for a class of exponential fault process is studied.
研究了一类带有指数故障过程的故障趋势预测问题。
2.
Finally,according to parameter estimation and linear correlation test,the fault process of turret systems was shown to fit with the updated process model.
根据17台某系列数控车床用刀架系统1年的15个随机截尾故障数据,首先应用故障总时间法进行故障数据预处理,然后采用图示和统计两种方法对故障数据进行趋势检验,最后通过参数估计与线性相关检验确定刀架系统故障过程符合更新过程模型,并对此进行了简要分析,为刀架系统的可靠性分析和评价提供了理论依据。
3)  process type fault
过程型故障
4)  fault transient
故障瞬间,故障过渡过程
5)  fault transient
故障过渡过程
6)  fault transient process
故障暂态过程
补充资料:正规过程和倒逆过程
      讨论完整晶体中声子-声子散射问题时,由于要求声子波矢为简约波矢(见布里渊区),所得到的总波矢守恒条件会相差一个倒易点阵矢量G)。例如对于三声子过程有下列条件
  
  
     , (1)
  式中q1和q2是散射前的声子简约波矢, q3为散射后声子波矢,式(1)中G)的取值应保证q3也是简约波矢。这时会出现两种过程,其一是当q1+q2在简约区内时,可以取倒易点阵矢量G)=0,式(1)则简化为总波矢守恒条件,称为正规过程或N过程。其二是当q1+q2超出简约区时,所取G)应保证q3仍落于简约区内,由于q3与q1+q2相差G),显然q3位于q1+q2的相反一侧,这时散射使声子传播方向发生了倒转,故称为倒逆过程或U过程。U过程总波矢不守恒,但总能量守恒,因为声子频率是倒易点阵的周期函数,而q3与q1+q2只相差一个倒易点阵矢量。N过程在低温长波声子的散射问题中起主要作用。当温度升高,简约区边界附近的声子有较多激发时,U过程变得十分显著,它对点阵热导有重要贡献。
  
  在能带电子与声子散射问题中存在着与式 (1)相仿的总波矢条件
  k+G=k┡±q,
  
     (2)
  式中k与k┡分别为散射前后电子的简约波矢,±号分别对应于吸收或发射q声子。类似的在热中子-声子散射以及晶体中一切波的相互作用过程中,总波矢变化都相差一个倒易点阵矢量G),因此也都有N与U过程之分。这是晶体和连续媒质不同之处,连续媒质对无穷小平移具有不变性,才能求得总波矢守恒,而晶体只具有对布喇菲点阵的平移不变性,因此总波矢守恒条件会相差一个倒易点阵矢量。
  

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参考词条