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1)  IC test system
集成电路测试系统
1.
This paper_gives the outline of 93k IC test system.
集成电路测试系统校准关系到集成电路测试结果的准确性和可靠性。
2.
Calibration of IC test system is critical to the precision and reliability of IC test results.
集成电路测试系统的校准关系到集成电路测试结果的准确性和可靠性。
3.
This paper introduces the principle of digital IC test system,and develops two quantitative methods to test AC parameters: step-dichotomy test and on the fly test.
本文介绍了数字集成电路测试系统的工作原理,提出了两种AC参数的定量测试方法:二分步长测试和on the fly测试。
2)  SAPPHIRE SOC Test System
SAPPHIRE集成电路测试系统
1.
This paper introduces the special software and flow converted from VCD test vector to STIL test vector,which is based of SAPPHIRE SOC Test System.
本文基于SAPPHIRE集成电路测试系统,介绍了自行开发的从VCD测试向量到STIL测试向量的转换软件及流程。
3)  IC testing
集成电路测试
1.
Firstly, the configuration of an ATE for digital IC testing is introduced in the thesis, including hardware blocks and f.
集成电路晶圆(Wafer Test)测试是集成电路测试的一种重要方法,是保证集成电路性能、质量的关键环节之一,是发展集成电路产业的一门支撑技术。
4)  IC test
集成电路测试
1.
IC test is as critical key as to sure the quantity and the development of IC .
集成电路测试是保证集成电路质量、发展的关键手段。
2.
Delay line is a key component of IC test system.
延迟线是集成电路测试系统的关键部件。
3.
The components include hardward of measurement device, programming test software and analysing the IC test results.
内容包括测试设备的硬件选择、测试软件的编写、集成电路测试结果的分析及集成电路的管理等。
5)  IC test instrument
集成电路测试仪
6)  integrated circuit tester
集成电路测试器
补充资料:集成电路测试系统


集成电路测试系统
integrated circuit test system

某·343·集(ATE)产业。IC测试系统的基本功能是检测被测器件(DUI、)的工作特性是否符合器件生产厂家给定的特性要求。系统按其测试的对象不同,大体分为数字IC测试系统、模拟IC测试系统和数模混合信号IC测试系统。 数宇lC侧试系统根据应用领域的不同,可分为通用IC测试系统、IC验证系统和验证测试系统。 对通用IC测试系统的要求是测试的通用性、技术指标的综合性。IC验证系统是一种对少量试制样品进行功能验证的测试设备,主要用于专用集成电路(A-测试计算机子系统测试、侧t子系统 ┌───┐ │系统 │ │控制器│ └───┘ ┌──┐ ┌─────────┐│终端│ │被侧器件 ││ │ ├─────────┤└──┘ │测试夹具 │ ├─────────┤┌───┐ │引脚电子电路 ││外围 │ └─────────┘│设备 │ ┌───┐┌────┐└───┘ │交流测││’直流测│ │量系统││.t系统 │ └───┘└────┘图1数字IC测试系统框图SIC)设计。验证测试系统是在IC验证系统的基础上,增加了直流和交流参数的测试功能,其特点是将IC的设计与测试紧密地联系起来。 测试系统由硬件和软件组成。 系统硬件可分为测试计算机子系统和测试、测量子系统两大部分,其结构如图1所示。 测试计算机子系统包括以下部件: (1)系统控制器一个高速处理部件。通过总线结构对测试系统进行控制,可以完成各种测试、记录和数据处理任务。系统控制器可以采用各种商用计算机。 (2)主存储器与系统控制器相连的高速大容量存储器,用于存储各种原始的测试向量和数据。 (3)图形发生器控制所有测试图形的产生和控制图形序列的处理器,提供测试功能数据,功能指施加、比较、禁止、屏蔽等。 (4)时钟发’l器一个具有多相时钟信号的多重定时集合发’}_器,定时集合可按测试周期实时选择和切换。 (5)外围设备用来满足控制器测试环境要求的部件,如磁盘、磁带、打印机、图形终端等。 (6)矩阵模拟开关矩阵,通过50n矩阵接于测试台。 (7)数据接口主控器与测试台之间的接口,用于测试数据、测试命令等信息交换。 (8)供电电源可编程供电电源的集合。
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参考词条