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1)  gallium arsenic phosphide single crystal
磷砷化镓单晶
2)  indium gallium arsenic phosphide single crystal
磷砷化镓铟单晶
3)  GaAs single crystal
砷化镓单晶
1.
Plastic deformation induced by indentation in a GaAs single crystal was investigated using electron microscopy in the present experiment.
用电子显微镜研究了压痕诱发砷化镓单晶中的塑性变形。
2.
049N Vickers indentation in GaAs single crystal has been investigated using high-resolution electron microscopy.
049 N载荷 Vickers压痕诱发砷化镓单晶的相转变进行了观察和研究,结果表明。
4)  gallium phosphide single crystal GaP
磷化镓单晶
5)  HB-GaAs single ctystle
水平砷化镓单晶
6)  indium gallium arsenide single crystal
砷化镓铟单晶
补充资料:磷砷化镓单晶
分子式:GaAs1-xPx;0≤x≤1
CAS号:

性质:周期表第Ⅲ,V族元素化合物半导体。共价键结合,有一定离子键成分。立方晶系闪锌矿型结构。0≤x≤0.53时为直接带隙半导体,0.53≤x≤1时为间接带隙半导体;禁带宽度随x变化在1.43~2.26eV范围。可在砷化镓衬底上用外延法制成异质结。是制备半导体可见光发光器件的材料。

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