1) X-ray emission analysis
X射线发射分析
2) X-ray emission-spectrometry
X射线发射光谱(分析)法
3) X-ray diffraction
X射线分析
1.
Crystallization process of CoSi2 thin films prepared by radio frequency magnetron sputtering have been investigated by in situ X-ray diffraction.
利用射频磁控溅射方法制备了具有CoSi2成分的非晶薄膜,对非晶薄膜的晶化过程进行了原位X射线分析。
4) XRD
X射线分析
1.
The resulting alloy material was characterized with XRD,electronic scanning microscope and mechanical property measurement.
微观形貌分析和X射线分析表明,稀土对孔洞的大小和孔壁的强度有显著的影响。
补充资料：X射线发射光谱法
分子式：
CAS号：
性质：又称X射线荧光光谱法（X ray fluorescence spectrometry）。以原级X射线作为激发方式的发射光谱分析方法。试样物质经原级X射线照射，产生次级X射线光谱，即X射线荧光光谱。
CAS号：
性质：又称X射线荧光光谱法（X ray fluorescence spectrometry）。以原级X射线作为激发方式的发射光谱分析方法。试样物质经原级X射线照射，产生次级X射线光谱，即X射线荧光光谱。
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条