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1)  dielectric fatigue
电介质老化
2)  dielectric aging
介电老化
1.
The dielectric aging of Pb(Zn1/3Nb2/3)O3-based ceramics with multiphase composite structure at 25℃ is studied as a function of sintering temperature and soaking time.
研究了Pb(Zn1/3Nb2/3)O3基复相陶瓷的室温介电老化行为与材料烧成制度的关系,发现介电常数与老化时间的对数值成线性关系,随烧成温度提高和保温时间延长,老化速率增大,老化速率对频率的依存性增加。
3)  dielectric ageing
介电老化
1.
A stochastic model of conducting crack propagation is presented to provide a conceptual framework dedicated to the study of the formation of fractal structure of dielectric ageing patterns as a result of a competition between random fluctuation growth and applied electric strength enhanced deterministic growth.
本文还给出了在介电老化过程中产生分形结构的充要条件。
2.
A kinetic model of dielectric ageing is presented.
提出了介电老化的动力学模型。
4)  dielectric fatigue
介质疲劳,介质老化
5)  resistance to medium ageing
耐介质老化性能
1.
different carbon black and different plasticizer on properties of resistance to medium ageing and injection technology were stated, its reasonable manufacture technology was determined, too.
阐述了不同橡胶、不同炭黑以及不同增塑剂对耐介质老化性能和注压工艺的影响,确定了合理的生产工艺。
6)  Dielectric polarization
电介质极化
1.
Nonlinear theory of dielectric polarization:Electron as soliton
电介质极化的非线性理论——作为孤立子的电子
补充资料:电介质老化


电介质老化
ageing of dielectrics

粘、脆化、出现裂纹或裂缝、变形等。电力设备通常由结构材料、导电材料、磁性材料及有机电介质材料所制成,其中以有机电介质最容易发生老化甚至发生击穿或其他形式的破坏,直接影响电力设备运行的可靠性或寿命。因此,研究和防止电介质老化有着重大意义和实用价值。 多数情况下,电介质老化是由于电介质的化学结构发生了变化,即通过降解、氧化、交联等化学反应改变了电介质的组成和化学结构,但也有仅仅是由于电介质的物理结构发生变化而变化的情况,例如,电介质中所含的增塑剂不断挥发或电介质中的球晶不断长大,都会使电介质变硬、变脆,失去使用价值。 根据老化因素的不同,往往把电介质老化区分为热老化、电老化、机械老化和环境老化等。 热老化在热的长期作用下发生的老化。热老化速度随温度升高而加速。热老化过程中,电介质性能发生不可逆劣化的主要原因是:在热的作用下,有机电介质发生了降解反应,其中包括使主链断链的解聚反应或无规断链反应和使侧基从主链上脱离的消去反应,从而产生大量低分子挥发物,并引起一系列更为复杂的反应。 通常所谓的热老化,实际上是指热氧化老化,即在热和氧协同长期作用下发生的老化。热氧化老化初期通常会出现过氧化氢物。过氧化氢分解产生自由基,然后引发出一系列氧化和断链化学反应,使分子量下降、含氧基团浓度增加,并不断挥发掉低分子产物,结晶度也随之变化。 电老化在强电场的长期作用下发生的老化。对于高电压设备的绝缘,电老化是不容忽视的。电老化大致分为无放电电老化和放电电老化两大类。 (l)无放电电老化。包括:①因局部电流过大发生热不平衡而引起的老化;②因电化学过程使金属导体被腐蚀,其残留物在电介质中或表面形成导电痕迹使绝缘性能丧失而造成的老化。 (2)放电电老化是电老化的主要形式。它是由于在放电过程中产生了以下加速老化的因素使电介质发生的老化:热、紫外线辐射、活性粒子(包括高能电子、原子态的氧或氮、激发态的氧分子或氮分子,以及氧或氮的分子离子等)和臭氧、二氧化氮等等。放电老化与放电强度有密切关系。电晕放电时放电强度最低,其老化主要由放电及空气中的氧的协同作用所致;火花放电时放电强度较强,常在电介质的表面产生炭化导电痕迹(电痕化);电弧放电时放电强度最强,对电介质的破坏力最大,破坏速度也最高。在电介质的内部,在电场集中部位往往发展另一种形式的放电老化,即电树枝化,包括水树枝化和化学树枝化。其名称与放电通道痕迹的形状有关。
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