1) electronic measurement,electronic surveying
电子测量<测>
2) Electronic measurement
电子测量
1.
The Application of Virtual Instrument Technique in Electronic Measurement;
虚拟仪器技术在电子测量中的应用
2.
The development of the electronic measurement are studied, and the virtual technology and its applying in the electronic measurement are introduced In addition, the advantage and disadvantage of applying the electronics workbech(EWB) and virtual instrument(VI) technologies in the electronic measurement are discusse
研究了电子测量的发展动态,介绍了虚拟技术的概念及其在电子测量中的的应用,并指出了应用电子工作平台(EWB)和虚拟仪器(VI)技术来进行电子测量的优缺点。
3.
Virtual instruments(VI) & computer acquisition test analysis instruments(CATAI) are the advanced technique of electronic measurement and computer testing controlling.
虚拟仪器 (VI)和计算机采集测试分析仪器———卡泰仪器 (CATAI)是电子测量技术和计算机测试控制的前沿技术 ,虚拟仪器将计算机采集测试分析引入到电子测量领域 ,用数字化和软件技术极大地提高了测量的灵活性和可扩充性。
3) electrical measurement
电子测量
1.
It introduces the theory of direct digital synthesis(DDS),and presents the application of DDS in electrical measurement and instrumentation.
介绍了直接数字式频率合成(DDS)技术的基本工作原理及其DDS在电子测量与仪表中的应用,并对相位截断条件下DDS的输出频谱进行了分析。
2.
This paper introduced an electrical measurement system based on virtual instrument theory.
本文介绍了一个基于虚拟仪器理论、利用计算机控制标准仪器实现电子测量系统的研制。
3.
This paper presents the theory of uncertainty and its combination in electrical measurement.
阐述了电子测量结果的不确定度及其合成 ,分析了等精度测量条件下直接和间接测量结果的不确定度评估方
6) measuring electronics
测量电子学
补充资料：长度测量工具:测长机
以线纹尺的刻度或光波波长作为已知长度﹐利用机械测头进行接触测量的光学长度测量工具(图1 测长机 )。
测长机具有能在3个坐标内移动和2个坐标内转动的可调工作台﹐还带有不同测头和附件﹐常用於检定大尺寸量块和测量多种工件的内﹑外尺寸。测长机有 1米﹑3米﹑6米和6米以上等几种测量范围﹐分度值通常为1微米。为求结构紧凑﹐多数测长机不採用阿贝原则(见长度测量工具)﹐而採用爱宾斯坦光学系统。这种光学系统能自动补偿由於导轨直线度误差引起的测量误差。
测量范围在1米以内的习惯上称为测长仪(图2 测长仪 )﹐
它利用读数显微镜和带有线纹尺的测量轴组成的测量系统(习惯上称为阿贝头)进行接触测量。阿贝头的示值范围一般为 100毫米。测长仪有立式和卧式两种。它的结构设计一般符合阿贝原则﹐故通常也称为阿贝测长仪。立式测长仪和卧式测长仪的测量范围通常分别不大於250毫米和600毫米(测量范围大於100毫米时需要用量块调整零位)。前者主要用於测量外尺寸﹐后者主要用於测量较大工件或在立式测长仪上不易定位的工件如圆盘等的内﹑外尺寸等。
测长机具有能在3个坐标内移动和2个坐标内转动的可调工作台﹐还带有不同测头和附件﹐常用於检定大尺寸量块和测量多种工件的内﹑外尺寸。测长机有 1米﹑3米﹑6米和6米以上等几种测量范围﹐分度值通常为1微米。为求结构紧凑﹐多数测长机不採用阿贝原则(见长度测量工具)﹐而採用爱宾斯坦光学系统。这种光学系统能自动补偿由於导轨直线度误差引起的测量误差。 测量范围在1米以内的习惯上称为测长仪(图2 测长仪 )﹐
它利用读数显微镜和带有线纹尺的测量轴组成的测量系统(习惯上称为阿贝头)进行接触测量。阿贝头的示值范围一般为 100毫米。测长仪有立式和卧式两种。它的结构设计一般符合阿贝原则﹐故通常也称为阿贝测长仪。立式测长仪和卧式测长仪的测量范围通常分别不大於250毫米和600毫米(测量范围大於100毫米时需要用量块调整零位)。前者主要用於测量外尺寸﹐后者主要用於测量较大工件或在立式测长仪上不易定位的工件如圆盘等的内﹑外尺寸等。
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条