说明:双击或选中下面任意单词,将显示该词的音标、读音、翻译等;选中中文或多个词,将显示翻译。
您的位置:首页 -> 词典 -> 光发射电子显微镜检查
1)  photo-emission electron microscopy
光发射电子显微镜检查
2)  electron emission microscopy
电子发射显微镜检查法
3)  Transmissionelectronmicroscopy
透射电子显微镜检查
4)  Electron microscopy
电子显微镜检查
5)  microscope/electron
显微镜检查/电子
6)  Photoemission electron microscopy
光发射电子显微镜
1.
Photoemission electron microscopy(PEEM),a newly developed surface probe in the early 90′s,is capable of in situ observing changes in local work function of the sample surface in a catalytic reaction in real time,and providing valuable information on reaction dynamics.
光发射电子显微镜是 90年代初发展起来的一种新的表面原位技术 ,它能够在多相催化反应过程中原位、动态观察样品表面局域功函数的变化 ,从而获得反应动力学的信息。
补充资料:显微镜装有场发射枪的扫描电子显微镜,分辨率为20




显微镜  装有场发射枪的扫描电子显微镜,分辨率为20
  [图]图

说明:补充资料仅用于学习参考,请勿用于其它任何用途。
参考词条