1) frame sweep unit
帧扫描部分
2) partial scan
部分扫描
1.
The possible timing loss in the partial scan design is also considered.
研究了部分扫描触发器的选择 ,对原有的基于状态密度的方法做了一些改进 ,提出一种综合的、基于故障可控性和可观性的扫描触发器选择的方法 ,并分析了扫描触发器对电路时序特性的影响 。
2.
Based on the anal ysis of excessive power dissipation of f ull-scan BIST, we present partial scan a lgorithm which selects a portion of regi sters for scan cells to implement low po wer BIST.
在分析全扫描内建自测试 (BIST)过高测试功耗原因的基础上 ,提出了一种选择部分寄存器成为扫描单元的部分扫描算法来实现低功耗 BIST。
3.
A partial scan algorithm for BIST, which combines the structure analysis and testability analysis, is presented in this paper.
提出了一种在内建自测试(BIST)中进行部分扫描的算法,此算法综合了电路的结构分析和可测性分析。
3) frame scan
帧扫描
1.
The paper introduced an extended LED lattice board experiment on the experiment case of the single chip computer and the principle of frame scanning,line scanning and character moving on LED lattice board.
介绍在单片机实验箱上扩展LED点阵板实验及在LED点阵板上进行帧扫描和行扫描的工作原理以及字符移动显示的原理。
4) fast-scan frame
快扫描帧
5) scanning frame
扫描帧
6) frame linearity
帧扫描线性
补充资料：扫描电子显微镜(见扫描电子显微术)
扫描电子显微镜(见扫描电子显微术)
scanning eleetron mieroseoPe
扫描电子显微镜scanning eleetron mieroseope见扫描电子显微术。
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条