1) open fault locator
开路故障定位器
2) line fault locator
线路故障定位器
4) stuck-open fault
开路故障
1.
This paper explores the feasibility for transient current test (I DDT)generation for stuck-open fault in CMOS circuits assumed that hazards are not considered in the circuits.
在不考虑冒险的情况下 ,对于CMOS电路中的开路故障 ,探讨了利用FAN算法进行瞬态电流测试产生的可能性 。
2.
Based on the analysis and research on FAN algorithm, an IDDT test pattern generation algorithm for stuck-open faults is p.
本文采用启发式搜索的方法，基于对FAN算法的分析，在不考虑冒险的情况下对于CMOS电路中的开路故障，探讨了利用FAN算法进行瞬态电流测试生成的可能性。
5) open-circuit fault
开路故障
1.
Through analysis and simulation,this paper did some research about the open-circuit fault diagnosis of transistors in three-level inverter.
该文针对三电平变换器的拓扑,通过理论分析和仿真实验,对变换器中的各功率管开路故障诊断进行研究。
6) open defect
开路故障
1.
Both via mismatches in manufacture and electro-migrations of Cu interconnect wires in working ICs may provide many candidates for open defects in power/ground networks,which in turn significantly impacts voltage disturbances.
制造中通孔对位不准,及运行中铜导线电迁移现象,都会在电源线/地线网络(P/G网)中产生大量潜在的开路故障,并使供电电压发生明显波动。
补充资料：开路电压
分子式：
CAS号：
性质：不通外电流时，电池正、负极间的电位降。电池的开路电压不一定等于其电动势，电池的可逆性愈好，二者愈接近。
CAS号：
性质：不通外电流时，电池正、负极间的电位降。电池的开路电压不一定等于其电动势，电池的可逆性愈好，二者愈接近。
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条