1) edge-sensitive scan design
边缘敏感扫描设计
2) LSSD
电平敏感型扫描设计
3) LSSD Level Sensitive Scan Design
电平敏感扫描设计
5) sensitive,edge
边缘敏感
6) scan design
扫描设计
1.
The paper introduces DFT tech-niques used in the design of a general-purposed CPU chip,including techniques of scan design,memory build-in-self-test,and IEEE Std.
文中介绍了在一款通用CPU芯片的设计过程中,为提高芯片的易测性而采取的各种可测试性设计技术,主要包括扫描设计(ScanDesign)、存储器内建自测试(Build-in-self-test,简称BIST)以及与IEEE1149。
2.
This paper presents a switc h-level scan design method which solves the problems of area, speed and test ti me at the gate level.
本文针对门级扫描设计存在的面积、速度和测试时间问题 ,给出了一种开关级扫描插入方法 ,较好地解决了门级扫描设计面临的面积和速度问题 ,改进了测试时间问题。
补充资料：M型扫描
M型扫描
M scan
即超声光点扫描法。用慢扫描将回声点的上下位展开，以构成时空曲线，曲线的垂直方向代表界面的前后空间位置，水平方向代表时间。用于观测活界面的时间变化。心脏活动构成的曲线为超声心动图(ech-ocardiogram），可观察心动周期各时期、心脏各层结构的位置、活动、厚度、内腔大小、结构的连续性及有无异常回声及其位置；还可用于胎心、胎动和膈肌运动的观测，心室收缩时间间期的分析。
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条