1) dispersion line
色散谱线
2) energy dispersive X-ray
X射线色散谱
1.
This paper presented and discussed a method and its principles to characterize the modulation structure of nano- multilayers with energy dispersive X- ray( EDX) techniques.
提出并讨论了采用 X射线色散谱 ( EDX)技术表征纳米多层膜调制结构的原理和方法 ,对Ti N/ Nb N纳米多层膜的调制结构特征进行了表征 ,并与横截面透射电子显微镜 ( TEM)表征方法进行比较 。
3) energy dispersive X-ray microanalysis system(EDS)
能量色散X射线谱
1.
The compositions of the coatings were analyzed by energy dispersive X-ray microanalysis system(EDS),and the morphology of the coatings was observed by scanning electron microscopy(SEM).
采用能量色散X射线谱(EDS)分析得出镀层成分,利用扫描电子显微镜(SEM)观察镀层形貌。
4) energy dispersive spectrometer(EDS)
X 射线能量色散谱(EDS)
5) wavelength dispersive spectrometer (WDS)
X 射线波长色散谱(WDS)
6) X-ray energy dispersive spectroscopy(EDS)
X射线能量色散谱(EDS)
补充资料：波长色散X射线荧光光谱法
分子式：
CAS号：
性质： X射线照射试样激发产生各种波长的光，通过晶体衍射进行空间色散，分别测量不同波长的X射线分析线峰值强度，进行定性和定量分析的方法。适用于原子序数4(铍)以上所有化学元素的分析。
CAS号：
性质： X射线照射试样激发产生各种波长的光，通过晶体衍射进行空间色散，分别测量不同波长的X射线分析线峰值强度，进行定性和定量分析的方法。适用于原子序数4(铍)以上所有化学元素的分析。
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条