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1)  subsieve size apparatus
亚筛粒度分析仪
2)  subsieve sizer
亚筛粒度测定仪
3)  grain-size analysis
粒度分析,筛分析
4)  particle size analysis by sieving
筛分法粒度分析
5)  size analysis by sieving
筛分粒度分析
6)  Grain size analyzers
粒度分析仪
补充资料:粉末粒度测定


粉末粒度测定
determination of powder particle size

  粉末粒度测定determination or powder partielesize测定粉末粒度的方法很多,由于原理不同,各自能测量的粒度范围也不相同。常用的方法有筛分法、沉降天平法和光学显微镜法。 筛分法有干法和湿法两种。粒度大于45月m的粉末采用干法,粒度小于45召m的粉末采用湿法。筛分结果取决于粉末的物理特性,筛子的几何形状和筛分方法。筛子通常是用金属丝编织的,筛孔为正方形,最小筛孔的边长为44召m。用电沉积法制成的筛子的筛孔边长可为5刀m。筛孔边长小于44召m的筛子称微米筛。干法筛分的原理是:将粉末倒在筛孔尺寸依次相连的一套试验筛上,经过振动把粉末筛分成不同的粒度级,然后称量每个筛面上和底盘上的粉末重量,计算出每个筛分粒度级的一百分含量,从而得出粉末的粒度组成。粉末颗粒的大小是以它正好通过的筛孔尺寸来表示。筛孔尺寸可以用一定长度的筛网上的筛孔数(目)或正方形筛孔的边长来表示。标准筛分仪器由标准筛、振筛机和天平组成。 沉降天平法是沉积法中广泛应用的一种粒度测定法。测定的粒度范围为2一80八m。小于2召m的细颗粒,由于布朗运动、对流和容易团聚等原因,不容易测准。大于80月m的粗颗粒,在搅拌操作过程中容易产生气泡,影响测定结果,需选用粘度较大的沉降介质。沉降天平法的基本原理是:粉末均匀地悬浮在沉降介质中,用天平称量经过一定时间间隔的沉降颗粒的累积重量,以时间和累积重量为坐标,沉降天平自动描绘出阶梯型沉降曲线;将曲线的时间坐标换算成粒度坐标,然后用作图法对曲线作切线,由累积重量坐标求出粒度组成。其中最大的粒度级,是与曲线第一个折点相对应的粒度级。 光学显微镜法是唯一可用的测量单个颗粒尺寸大小的方法。这种方法比较直观,常用来标定其他粒度测定方法。光学显微镜测定的粒度范围为0.3一500月m。再小的采用电子显微镜测定。用显微镜测定粉末粒度时,必须一粒一粒地进行,然后换算成等体积的球体,再以球体的直径作为粒径。根据需要,也可以用颗粒的长度或长宽的平均值表示粒度。在显微镜下测量粉末颗粒时,必须预先分散。比较粗的颗粒放在玻璃载片上,轻轻敲动,使其散开;比较细的粉末,放在玻璃载片上,滴上适量的分散剂,再放上玻璃盖片或用玻璃棒揉研,直至粉末分散。对分散剂的要求是:①与所测粉末起分散作用;②与所测粉末不起化学反应;③分散剂的挥发物对显微镜部件无腐蚀作用;④分散剂应无色透明并与所测粉末和玻璃载片有良好的湿润性。常用的分散剂有挥发性的,如钟表油、松节油;固化性的,如醋酸戊醋火棉胶溶液。随着测试技术的进步,显微镜粒度图象自动测定装置已经问世,它简化了人工操作并提高了测试速度和精度。(姜振春)
  
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参考词条