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1)  Enhanced patch test
增强型分片检验
2)  patch test
分片检验
1.
Then a suitable statement of patch test for axisymmetric solid nonconforming element is presented.
导出了轴对称非协调元分片检验中检验函数的形式,其位移函数是一种不完全的线性函数。
2.
To pass the patch test, the constant strain matrix is modified.
通过修正常应变矩阵,确保单元通过分片检验。
3.
A method that controlls hourglass distortion by eliminating rank deficiency is developed and validated by patch tests.
分析二维拉氏四边形四节点等参有限元程序存在的网格沙漏变形问题,认为单元刚度矩阵的秩缺陷是沙漏变形的原因,给出一种消除单元刚度矩阵秩缺陷且正交于线性位移场的沙漏控制方法,不仅有效地控制了沙漏变形,而且通过了分片检验。
3)  Strong MCU
增强型单片机
4)  enhanced configuration device
增强型配置片
1.
FPGA dynamic configuration using enhanced configuration device;
利用Altera增强型配置片实现FPGA动态配置
5)  generalized patch test
广义分片检验
1.
Using the double set parameter method of finite element,a class of 12 parameter rectangular plate elements,which past the generalized patch test is constructed.
本文利用有限元的双参数法,构造了一类十二参矩形板元,通过广义分片检验,因此对四阶问题收敛。
6)  C0-1 patch test
C0-1分片检验
1.
Numerical results show that the element can reflect the scale effects of strain gradient and pass C0-1 patch test.
数值结果表明该单元通过C0-1分片检验并能体现材料的尺度效应。
补充资料:增强
分子式:
CAS号:

性质:在分析化学中,引起测量信号增大的一种干扰现象。它造成分析试样表观浓度或含量高于待测物质的真实浓度或含量。通称为增强。

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参考词条