1) in situ electrochemical atomic force microscopy
原位电化学原子力显微镜
3) Conductive atomic force microscopy
导电原子力显微镜
1.
We report a study of tip artifacts in conductive atomic force microscopy images of thin dielectric films.
对导电原子力显微镜在介质层电流图像检测中存在的假像进行了研究。
2.
In this dissertation, we choose the molecules with different chain length and end groups, and give them a in-depth exploratory research by conductive atomic force microscopy (CAFM) and scan.
本论文将以不同链长和不同末端基团的硫醇分子自组装膜为研究对象，借助导电原子力显微镜(CAFM)和扫描隧道显微镜(STM)，对其电输运性质进行较为深入的探索性研究。
4) Conducting atomic force microscope(C-AFM)
导电原子力显微镜(C-AFM)
5) Conducting atomic force microscopy
导电原子力显微镜
1.
The electronic transport properties of the alkanethiol self-assembled monolayer(SAM)with various terminal groups on Au(111)surfaces have been investigated by the conducting atomic force microscopy(CAFM).
在金(111)表面组装了具有不同末端基团的硫醇单层分子膜,并利用导电原子力显微镜研究了分子膜的电输运性质,发现不同末端基团的分子自组装膜的导电能力有明显差别。
6) conductive atomic force microscope
导电型原子力显微镜
1.
Using conductive atomic force microscope on carbon nanotube networks
碳纳米管网络导电特征的导电型原子力显微镜研究
补充资料：原位
分子式：
CAS号：
性质：源于拉丁语。指在原来的，正常、自然的部位或位置。
CAS号：
性质：源于拉丁语。指在原来的，正常、自然的部位或位置。
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条